特許
J-GLOBAL ID：200903052928024801

電気光学装置及びその検査方法、並びに電子機器

発明者：
石井 賢哉

石井 賢哉 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  藤綱 英吉 ,  須澤 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-140015
公開番号（公開出願番号）：特開2007-079541
出願日： 2006年05月19日
公開日（公表日）： 2007年03月29日
要約：
【課題】液晶装置等の電気光学装置において、検査を容易に行えるようにしつつ、小型化を図る。【解決手段】電気光学装置は、素子基板上における周辺領域のうちその一辺において対向基板から張り出している張出領域に、その一辺に沿って配列され、複数の表示素子に画像表示させるための各種信号を供給する外部回路が接続されると共に、表示検査の際に、一括して検査用画像信号が供給される複数の外部回路接続端子を備える。更に、張出領域において複数の外部回路接続端子の配列の端に配置されており、表示検査のために検査用画像信号以外に必要となる第1検査信号が供給される複数の第1検査端子を備える。第1検査端子は、外部回路接続端子と比較して広いピッチで配置されている。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
素子基板と、 前記素子基板の一部が張出領域において張り出すように前記素子基板と貼り合わせられる対向基板と、 前記素子基板上の画素領域に配列された複数の画素部と、 前記素子基板上における前記画素領域の周辺に位置する周辺領域のうち前記張出領域に配列され、前記複数の画素部に画像表示させるための画像信号及び制御信号を含む各種信号が外部回路から供給される複数の外部回路接続端子と、 前記張出領域において、前記複数の外部回路接続端子の配列の端に配置されており、検査信号が供給される複数の検査端子と を備えており、 前記複数の検査端子は、前記複数の外部回路接続端子同士の間隔と比較して広い間隔で配置されていることを特徴とする電気光学装置。
IPC (3件)：
G09F 9/30 ,  G09F 9/00 ,  G02F 1/134
FI (3件)：
G09F9/30 330Z ,  G09F9/00 352 ,  G02F1/1345
Fターム (18件)：
2H092GA31 ,  2H092GA61 ,  2H092JB77 ,  2H092NA30 ,  2H092PA06 ,  5C094AA41 ,  5C094AA42 ,  5C094AA43 ,  5C094BA03 ,  5C094BA43 ,  5C094CA19 ,  5C094DB02 ,  5C094EA03 ,  5G435AA17 ,  5G435AA19 ,  5G435BB12 ,  5G435CC09 ,  5G435EE47
引用特許：
出願人引用 (3件)
  • 液晶表示装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-375636   出願人：京セラ株式会社
  • 液晶表示装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-018005   出願人：京セラ株式会社
  • 液晶装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-323083   出願人：セイコーエプソン株式会社
審査官引用 (4件)
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