特許

J-GLOBAL ID：200903074623091472

電気光学装置用基板、電気光学装置、検査装置、電子機器、検査方法及び電気光学装置の製造方法

発明者： 田中 重和 ,  菅沼 千砂子
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  藤綱 英吉 ,  須澤 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-422699
公開番号（公開出願番号）：特開2005-181705
出願日： 2003年12月19日
公開日（公表日）： 2005年07月07日
要約：

【課題】 プローブ端子を形成する手間及びコストを軽減することができる電気光学装置、その電気光学装置に用いられる電気光学装置用基板、その電気光学装置に用いられる検査装置、その電気光学装置が搭載された電子機器、その電気光学装置の検査方法及びその電気光学装置の製造方法を提供すること。【解決手段】 出力端子群8、9のそれぞれと電気的に接続され所定のピッチに配列された検査端子群17、18を有し、出力端子群8に電気的に接続された例えば検査端子17aと出力端子群9に電気的に接続された例えば検査端子18aとの距離がそのピッチの整数倍の長さになるように、基板2上に設けられた検査端子群17、18を具備するので、プローブ端子のピッチを例えば検査端子群17のピッチdに合わせるだけで、検査の際に各液晶装置1で共通のプローブ端子群21を用いることができる。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

第1の接続端子群と、 第2の接続端子群と、 所定の間隔で端子が配列されてなり、前記第1の接続端子群に電気的に接続されてなる第1の検査端子群と、 前記第1の検査端子群の端子同士の間隔の整数倍で端子が配列されてなり、前記第2の接続端子群に電気的に接続されてなる第2の検査端子群と を備え、 前記第1の検査端子群は、前記第2の検査端子群の配列方向の延長線上で、且つ、離間して配列されてなり、 前記離間した間隔は、前記第1の検査端子群の端子同士の間隔の整数倍であることを特徴とする電気光学装置用基板。

IPC (5件)：

G02F1/1345 ,  G01R31/00 ,  G02F1/13 ,  G09F9/00 ,  G09F9/30

FI (5件)：

G02F1/1345 ,  G01R31/00 ,  G02F1/13 101 ,  G09F9/00 352 ,  G09F9/30 330Z

Fターム (35件)：

2G036AA19 ,  2G036AA27 ,  2G036BA33 ,  2G036BB12 ,  2G036CA02 ,  2G036CA09 ,  2H088FA16 ,  2H088FA24 ,  2H088FA30 ,  2H088HA02 ,  2H088HA05 ,  2H088MA16 ,  2H092GA37 ,  2H092GA44 ,  2H092GA57 ,  2H092MA57 ,  2H092NA25 ,  2H092NA27 ,  2H092NA30 ,  2H092PA06 ,  5C094AA41 ,  5C094AA43 ,  5C094BA43 ,  5C094CA19 ,  5C094DB03 ,  5C094EA03 ,  5C094GB10 ,  5C094HA08 ,  5C094HA10 ,  5G435AA17 ,  5G435AA19 ,  5G435BB12 ,  5G435CC09 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 液晶表示装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-061597   出願人：シャープ株式会社

審査官引用 (4件)

• 電気光学パネル及びその検査方法並びに電子機器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-254845   出願人：セイコーエプソン株式会社
• 表示装置、及び、表示装置の検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-196544   出願人：セイコーインスツルメンツ株式会社
• 液晶表示装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-313333   出願人：株式会社日立製作所, 日立デバイスエンジニアリング株式会社
• 液晶表示素子
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-002786   出願人：東芝電子エンジニアリング株式会社, 株式会社東芝