複合型磁気ヘッドの検査方法及び装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山本恵一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-020135
公開番号（公開出願番号）：特開2000-222713
出願日： 1999年01月28日
公開日（公表日）： 2000年08月11日
要約：

【要約】【目的】バイアスポイントの周辺における出力不安定性の検査を容易にかつ確実に行うことができる複合型磁気ヘッドの検査方法及び装置を提供する。【構成】複合型磁気ヘッドに外部から磁界を印加すること無しにインダクティブ素子に電流を印可し、この電流の印加終了後にMR素子の出力特性を測定する。

請求項（抜粋）：

磁気抵抗効果素子及びインダクティブ素子を備えた複合型磁気ヘッドの検査方法であって、該複合型磁気ヘッドに外部から磁界を印加すること無しに前記インダクティブ素子に電流を印加し、該電流の印加終了後に前記磁気抵抗効果素子の出力特性を測定することを特徴とする複合型磁気ヘッドの検査方法。

IPC (2件)：

G11B 5/455 , G11B 5/39

FI (2件)：

G11B 5/455 C , G11B 5/39

Fターム (4件)：

5D034BA02 , 5D034BB06 , 5D034BB12 , 5D034BB14

引用特許：

出願人引用 (4件)

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審査官引用 (1件)

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