特許
J-GLOBAL ID:200903054271050966
内部電流キャンセル機能および底面端子を有する積層セラミックコンデンサ
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
谷 義一
, 阿部 和夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-295916
公開番号(公開出願番号):特開2007-129224
出願日: 2006年10月31日
公開日(公表日): 2007年05月24日
要約:
【課題】コンデンサの構成を改良して全体のインダクタンスを小さくすること。【解決手段】低インダクタンスのコンデンサが、誘電体層の間に配置されてマウント面にほぼ垂直になるように方向付けされた電極を含む。ターミネーションランドの形成場所を決定して、電流ループ面積を減らすこと、したがって、部品インダクタンスを減らすことを目的とする、ランド間の狭い、制御された間隔を定義するために、デバイス周辺部に沿って垂直電極を露出する。インターデジット式ターミネーションにより、電流ループ面積、したがって、部品の等価直列インダクタンス(ESL)をさらに減らすことが可能である。ターミネーションは、様々な無電解めっき技術によって形成可能であり、回路基板パッドに直接はんだ付けすることが可能である。【選択図】図4
請求項(抜粋):
複数の第1の電極層であって、各第1の電極層が、4つのエッジで拘束された第1および第2の面を有する第1の誘電体層と、前記第1の誘電体層の前記第1の面の一部を覆い、前記第1の誘電体層の1つのエッジの少なくとも一部に延びる第1の導電層とを含む複数の第1の電極層と、
前記複数の第1の電極層と交互にスタックされる複数の第2の電極層であって、各第2の電極層が、4つのエッジで拘束された第1および第2の面を有する第2の誘電体層と、前記第2の誘電体層の前記第1の面の一部を覆い、前記第2の誘電体層の1つのエッジの少なくとも一部に延びる第2の導電層とを含み、前記第2の導電層が、前記第1の導電層の鏡像として形成される複数の第2の電極層と、
前記第1の電極層の前記少なくとも1つのエッジの一部を覆い、前記複数の第1の電極層のそれぞれの前記第1の導電層を電気的に接続する第1の導電ターミネーション層と、
前記第2の電極層の前記少なくとも1つのエッジの一部を覆い、前記複数の第2の電極層のそれぞれの前記第2の導電層を電気的に接続する第2の導電ターミネーション層とを含む積層電子部品であって、
前記第1の導電ターミネーション層と前記第2の導電ターミネーション層とが、前記第1および第2の電極層の両方の前記少なくとも1つのエッジの一部に沿って、互いの間にギャップを形成するように構成され、
それによって、前記第1の導電ターミネーション層から、前記複数の第1の電極層および複数の第2の電極層を経て、前記第2の導電ターミネーション層までの最小電流ループ面積が形成されることを特徴とする積層電子部品。
IPC (2件):
FI (4件):
H01G4/30 301B
, H01G4/30 311E
, H01G4/12 352
, H01G4/12 364
Fターム (17件):
5E001AB03
, 5E001AC03
, 5E001AE00
, 5E001AE02
, 5E001AE03
, 5E001AF06
, 5E001AH05
, 5E001AJ01
, 5E001AJ03
, 5E082AA01
, 5E082AB03
, 5E082BC14
, 5E082FG06
, 5E082FG26
, 5E082GG10
, 5E082JJ03
, 5E082JJ15
引用特許:
出願人引用 (17件)
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米国特許第6243253号明細書(DuPreら)
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米国特許第6822847号明細書(Devoeら)
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米国特許第6757152号明細書(Galvagniら)
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米国特許第6606237号明細書(Naitoら)
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米国特許第6576497号明細書(Ahikoら)
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米国特許第3444436号明細書(Coda)
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米国特許出願公開第2004/0184202号明細書(Togashiら)
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米国特許出願第10/409023号明細書(件名「Plated Terminations」)
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米国特許出願公開第20030231457号明細書(2003年12月18日)
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米国特許出願公開第2005/0047059号明細書(Togashiら)
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米国特許第6292351号明細書(Ahikoら)
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米国特許第5517385号明細書(Galvagniら)
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米国特許第4831494号明細書(Arnoldら)
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米国特許第6885544号明細書(Kimら)
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米国特許第6483692号明細書(Figueroaら)
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米国特許第6661640号明細書(Togashi)
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米国特許第6917510号明細書(Prymak)
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審査官引用 (6件)
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