特許
J-GLOBAL ID：200903054301000616

X線CTデータからの密度分析方法、密度分析方法を実行するためのコンピュータプログラムおよび密度分析システム

発明者：
須能 恵

須能 恵 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 高崎 芳紘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-111964
公開番号（公開出願番号）：特開2006-292501
出願日： 2005年04月08日
公開日（公表日）： 2006年10月26日
要約：
【課題】X線CT装置の分解能以下の密度変化についても有効な分析を行えるようにする。【解決手段】密度分析の単位となる密度分析領域を撮像データ上に所定の状態で配置する密度分析領域配置処理、設定・配置した各密度分析領域について実測平均密度と実測標準偏差を求める密度計測処理、各密度分析領域を順次着目領域とし、着目領域の周囲における密度分析領域である複数の参照領域それぞれの実測平均密度から得られる周辺平均密度から着目領域の推測平均密度を求めるとともに、複数の参照領域それぞれの実測標準偏差から着目領域の推測標準偏差を求める推測処理、および実測平均密度と推測平均密度の差分を実測-推測差分として求めるとともに、実測-推測差分を推測標準偏差と比較し、この比較から参照領域に対する着目領域の密度変化確率を求める密度変化算出処理を含むものとしている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被検体をX線CT装置で撮像して得られる撮像データから前記被検体の密度について分析を行うX線CTデータからの密度分析方法において、 前記撮像データを構成する画素を複数含むように設定され、密度分析の単位となる密度分析領域を前記撮像データ上に所定の状態で配置する密度分析領域配置処理、前記密度分析領域配置処理で設定・配置された各密度分析領域について実測平均密度と実測標準偏差を求める密度計測処理、前記各密度分析領域を順次着目領域とし、前記着目領域の周囲における密度分析領域である複数の参照領域それぞれの前記実測平均密度から得られる周辺平均密度から前記着目領域の推測平均密度を求めるとともに、前記複数の参照領域それぞれの前記実測標準偏差から前記着目領域の推測標準偏差を求める推測処理、および前記実測平均密度と前記推測平均密度の差分を実測-推測差分として求めるとともに、前記実測-推測差分を前記推測標準偏差と比較し、この比較から前記参照領域に対する前記着目領域の密度変化確率を求める密度変化算出処理を含むことを特徴とする密度分析方法。
IPC (1件)：
G01N 23/04
FI (1件)：
G01N23/04
Fターム (10件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001HA07 ,  2G001HA08 ,  2G001HA14 ,  2G001KA01 ,  2G001KA03 ,  2G001LA02 ,  2G001LA03
引用特許：
出願人引用 (8件)
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