特許
J-GLOBAL ID：200903054641641071

測定物の表面状態試験法およびその試験装置

発明者：
松田 健次

松田 健次 について


出願人/特許権者：
独立行政法人 科学技術振興機構

独立行政法人 科学技術振興機構 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-109807
公開番号（公開出願番号）：特開2004-317217
出願日： 2003年04月15日
公開日（公表日）： 2004年11月11日
要約：
【課題】所定の速度でハンマを測定物に衝突させ、反発後のハンマの振動状況あるいは衝突時のハンマに生じるひずみによって、表面膜の付着状況、測定物の硬さ以外の機械的特性、材料の反発硬さ等を評価することができる測定物の表面状態試験法を提供する。【解決手段】所定の速度でハンマを測定物に衝突させ、反発後のハンマの振動を計測することにより測定物の表面状況を評価することを特徴とする測定物の表面状態試験法であり、種々の表面改質膜の付着強度をも評価可能な簡便で実用的な表面状態試験法である。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
所定の速度でハンマを測定物に衝突させ、反発後のハンマの振動を計測することにより測定物の表面状況を評価することを特徴とする測定物の表面状態試験法。
IPC (3件)：
G01N3/00 ,  G01N3/303 ,  G01N3/40
FI (3件)：
G01N3/00 P ,  G01N3/303 B ,  G01N3/40 C
Fターム (8件)：
2G061AA13 ,  2G061BA01 ,  2G061BA06 ,  2G061BA20 ,  2G061CA01 ,  2G061CA16 ,  2G061EA04 ,  2G061EA07
引用特許：
審査官引用 (8件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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