特許
J-GLOBAL ID:200903054723113260

露光装置、露光方法及びデバイス製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 志賀 正武 ,  高橋 詔男 ,  青山 正和 ,  西 和哉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-036676
公開番号(公開出願番号):特開2007-251152
出願日: 2007年02月16日
公開日(公表日): 2007年09月27日
要約:
【課題】パターンどうしを良好に位置合わせでき、基板を効率良く多重露光できる露光装置を提供する。【解決手段】露光装置EXは、第1パターンPA1の像を第1露光領域AR1に形成可能であり、第1パターンPA1と異なる第2パターンPA2の像を第2露光領域AR2に形成可能な投影光学系PLと、第1パターンPA1の像の位置情報、及び第2パターンPA2の像の位置情報の少なくとも一方を求めるための第1検出系10とを備える。検出結果に基づいて、第1及び第2パターンPA1,PA2の像と基板P上の所定領域Sとの位置関係を調整し、第1及び第2パターンPA1,PA2の像で基板P上の所定領域Sを多重露光する。基板を効率良く多重露光できる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
基板を露光する露光装置であって、 第1パターンの像を第1露光領域に形成し、前記第1パターンと異なる第2パターンの像を第2露光領域に形成する光学システムと、 前記第1露光領域に形成されるパターン像の位置情報、及び前記第2露光領域に形成されるパターン像の位置情報の少なくとも一方を求めるための第1検出系とを備え、 前記第1露光領域に形成される第1パターンの像と前記第2露光領域に形成される第2パターンの像とで前記基板上の所定領域を多重露光する露光装置。
IPC (2件):
H01L 21/027 ,  G03F 7/20
FI (3件):
H01L21/30 515D ,  G03F7/20 521 ,  H01L21/30 514A
Fターム (10件):
5F046AA13 ,  5F046BA05 ,  5F046CB25 ,  5F046CC02 ,  5F046DB05 ,  5F046DB08 ,  5F046EB01 ,  5F046ED02 ,  5F046FA17 ,  5F046FC05
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る