特許
J-GLOBAL ID：200903055606596175
小型電子部品の特性測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
筒井 秀隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-293441
公開番号（公開出願番号）：特開平9-113555
出願日： 1995年10月16日
公開日（公表日）： 1997年05月02日
要約：
【要約】【課題】電子部品の電極部と測定用端子とを安定して接触させ、測定バラツキの少ない小型電子部品の特性測定装置を提供する。【解決手段】本発明の特性測定装置は、一端面に2個の電極部を有する小型電子部品20の電気的特性を測定する。ホルダ25の表面には小型電子部品の一端部を嵌合保持する有底の保持穴28を有し、保持穴の底部に裏面側へ貫通する2個の挿通穴29を形成する。一対の導電性板ばねよりなる測定用端子30,31がホルダ22に固定され、その先端部には、ホルダの挿通穴を貫通して保持穴に突入し、小型電子部品の電極部に圧接する一対の接触子34,35に固定される。端子のばね力より大きな荷重で小型電子部品を保持穴に押し込む押圧手段21を備える。
請求項（抜粋）：
一端面に複数の電極部を有する小型電子部品の電気的特性を測定する装置において、表面に小型電子部品の一端部を嵌合保持する有底の保持穴を形成し、この保持穴の底部に裏面側へ貫通する複数の挿通穴を形成した絶縁性ホルダと、基端部が上記ホルダに固定され、先端部が上記保持穴の裏面側に変位自在に配置された複数の導電性板ばねよりなる測定用端子と、上記ホルダの挿通穴を貫通して保持穴に突入し、小型電子部品の電極部に圧接するよう、上記端子の先端部にそれぞれ固定された複数の接触子と、上記端子のばね力より大きな荷重で小型電子部品を保持穴に押し込む押圧手段と、を備えたことを特徴とするチップ部品の特性測定装置。
IPC (4件)：
G01R 27/26
, G01R 1/067
, G01R 1/073
, G01R 31/00
G01R 27/26 L
, G01R 1/067 C
, G01R 1/073 B
, G01R 31/00
