点検データ処理システム

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：東野博文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-235576
公開番号（公開出願番号）：特開平11-083560
出願日： 1997年09月01日
公開日（公表日）： 1999年03月26日
要約：

【要約】【課題】本発明は点検データ処理システムに関し、測定対象に応じた検査シートを作成し、この検査シートの所定の位置に検査結果を自動的に記録することができる点検データ処理システムを提供することを目的としている。【解決手段】各種の測定器又は発生器と、これら測定器及び/又は発生器とが接続され、その機能が試験される各種の被試験用のカードが装着された被試験カード群と、前記各種の測定器又は発生器に所定の設定データを与えると共に、これら測定器又は発生器の出力により設定された各種カードの出力を取り込み、取り込むデータの種類に応じたフォーマットの検査シートを作成し、当該検査シートの所定位置に測定結果を書き込む制御手段とにより構成される。

請求項（抜粋）：

各種の測定器又は発生器と、これら測定器及び/又は発生器とが接続され、その機能が試験される各種の被試験用のカードが装着された被試験カード群と、前記各種の測定器又は発生器に所定の設定データを与えると共に、これら測定器又は発生器の出力により設定された各種カードの出力を取り込み、取り込むデータの種類に応じたフォーマットの検査シートを作成し、当該検査シートの所定位置に測定結果を書き込む制御手段とにより構成されてなる点検データ処理システム。

IPC (2件)：

G01D 21/00 , G06F 19/00

FI (3件)：

G01D 21/00 N , G06F 15/22 B , G06F 15/22 J

引用特許：

審査官引用 (11件)

特開昭61-243540
電子機器の性能試験装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-323230 出願人：株式会社東芝
温度センサ
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-074309 出願人：工業技術院長

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