特許
J-GLOBAL ID：200903057116113691
校正器、及び、校正方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-003916
公開番号（公開出願番号）：特開2005-195530
出願日： 2004年01月09日
公開日（公表日）： 2005年07月21日
要約：
【課題】 放射線撮影装置を構成する各装置に依存しない絶対的な基準方向に基づいて、各装置を校正することのできる校正器、及び、校正方法を提供する。【解決手段】 金属薄板161を貼り付けた、L字型の校正器16を、X線検出器15の画素並びと平行となるように設置し、校正器16にX線を照射してX線検出器15で検出された結果に基づいてX線検出器15の傾きを校正する。校正器14が備える金属細線141と金属薄板145とにX線を照射し、X線検出器15で検出された結果に基づいて、試料台12の、X線照射方向に対する傾きとX線照射方向に直交する面に対する傾きとを同時に検出して校正する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
放射線を照射する放射線源と、試料を載せる試料台と、該試料台を挟んで前記放射線源と対向する位置に配置され、前記試料を通過した放射線の強度を検出する検出器とを備える放射線撮影装置のうちの前記試料台の傾きを校正する校正器において、
一端が固定され、かつ、放射線透過率が周囲の物質よりも小さい材質で形成された線状部材と、
前記線状部材の近傍に固定され、かつ、放射線透過率が周囲の物質よりも小さい材質で形成された金属薄板と
を備え、
前記線状部材と前記金属薄板とに放射線を照射することにより前記検出器で検出された結果に基づいて、前記試料台の、放射線照射方向に対する傾きと放射線照射方向に直交する面に対する傾きとを、同時に検出して校正することを特徴とする校正器。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (12件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA09
, 2G001FA02
, 2G001FA11
, 2G001FA30
, 2G001GA01
, 2G001GA06
, 2G001HA13
, 2G001JA11
, 2G001JA13
出願人引用 (2件)
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X線CT装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-133329
出願人：株式会社島津製作所
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特開昭58-41532号公報
審査官引用 (6件)
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