特許

J-GLOBAL ID：200903057283976111

ICハンドラ

発明者： 竹本 正
出願人/特許権者： 福岡日本電気株式会社
代理人 (1件)： 丸山 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-070780
公開番号（公開出願番号）：特開2000-266810
出願日： 1999年03月16日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
要約：

【要約】【課題】 ICソケットのコンタクタの弾性が長年の使用によって変化した際に接触抵抗が増大するようなことのないICハンドラを提供すること。また試験される半導体装置の押し込み高さを常に最適となるように的確に制御し、制御に使用する圧力センサを特定の位置に装着して、ICハンドラの保守性をさらに向上させること。【解決手段】 ICデバイスの電気特性を測定する際に、ICソケットへICデバイスを押し込む測定ハンドにおいて、前記ICソケット外の測定ハンドのシャフト部分に圧力センサを備えたことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

ICデバイスの電気特性を測定する際に、ICソケットへICデバイスを押し込む測定ハンドにおいて、前記ICソケット外の測定ハンドのシャフト部分に圧力センサを備えたことを特徴とするICハンドラ。

FI (2件)：

G01R 31/26 Z ,  G01R 31/26 J

Fターム (9件)：

2G003AA07 ,  2G003AG01 ,  2G003AG07 ,  2G003AG08 ,  2G003AG11 ,  2G003AG12 ,  2G003AH00 ,  2G003AH01 ,  2G003AH02

引用特許：

審査官引用 (3件)

• IC試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-280893   出願人：日本電気株式会社
• ICのICソケットへの接触機構
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-048380   出願人：安藤電気株式会社
• 半導体装置の検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-193565   出願人：日本電気株式会社