特許
J-GLOBAL ID:200903057639981808

成分分析計の光学的測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 浅村 皓 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-176766
公開番号(公開出願番号):特開平8-043299
出願日: 1994年07月28日
公開日(公表日): 1996年02月16日
要約:
【要約】【目的】 試料容器中に詰め込まれた試料の詰め具合の不均一のために生ずる、測定光の光軸が試料中を通る位置の違いによる測定値の誤差を極力小さくする。【構成】 光源から放射された光の光軸を横切るように、試料を収容する試料容器を駆動機構によって断続的に移動させ、その断続的な移動中の複数個の停止位置で試料容器中の試料の異なる部分における透過光を検出器で検出して、それら複数個の検出値を平均して試料の測定値とするようにした成分分析計の光学的測定措置。
請求項(抜粋):
所要の波長の測定光を放射する光源と、該光源からの測定光を試料中の一部に集光させる光学手段と、該試料を透過した測定光を検出する検出器と、前記試料を収容し、前記測定光が透過する部分は光透過部材で形成した試料容器と、該試料容器を前記測定光の光軸に垂直な方向に複数段階にわたり断続的に移動させる手段と、該移動手段により前記試料容器が断続的に移動されるときに所要の複数個の停止位置で前記検出器での検出値を取り込む手段と、を備えた成分分析計の光学的測定装置。
IPC (3件):
G01N 21/27 ,  G01N 21/31 ,  G01N 21/59
引用特許:
審査官引用 (8件)
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