特許
J-GLOBAL ID：200903057774334723

分光測定試料、分光測定基板、及び、分光測定方法

発明者：
西澤 潤一

西澤 潤一 について

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渡辺 民朗

渡辺 民朗 について

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倉林 徹

倉林 徹 について

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菊地 紀江

菊地 紀江 について


出願人/特許権者：
公立大学法人岩手県立大学

公立大学法人岩手県立大学 について


代理人 (1件)： 福森 久夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-181353
公開番号（公開出願番号）：特開2009-019925
出願日： 2007年07月10日
公開日（公表日）： 2009年01月29日
要約：
【課題】テラヘルツ領域の電磁波を用いた分光分析では、従来、固体試料の場合は、フラット型又はくさび型のペレット状に試料を加工して測定していたが、干渉や試料回転角依存性の影響で、高精度な分光測定ができなかった。また、液体試料の場合は、液体セル又は試験管に試料を入れて測定していたが、測定感度が低いという問題があった。【解決手段】固体試料の形状を電磁波の光軸に関して対称な曲面を持つペレットとした。干渉や回転角に対する依存性が低減し、高精度分光測定が可能になった。液体試料は、複数の微小な孔部を有する基板上に試料を滴下して測定することにした。孔部を通過した電磁波が集光するために、微量の試料についても高感度測定が可能になった。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
電磁波を照射し透過波又は反射波を測定する分光測定における試料であり、前記試料の形状が中心軸に対し対称な曲面を少なくとも一つ有する形状であることを特徴とする分光測定試料。
IPC (2件)：
G01N 1/36 ,  G01N 21/35
FI (2件)：
G01N1/28 R ,  G01N21/35
Fターム (19件)：
2G052AA28 ,  2G052AD35 ,  2G052AD52 ,  2G052FD13 ,  2G052GA11 ,  2G052JA09 ,  2G059AA01 ,  2G059AA03 ,  2G059BB09 ,  2G059BB11 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD01 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ02 ,  2G059KK01
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (1件)

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