電磁波の照射を利用した食品検査装置および検査方法

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-436320
公開番号（公開出願番号）：特開2005-172775
出願日： 2003年12月05日
公開日（公表日）： 2005年06月30日
要約：

【課題】本発明は、食品のDNA構造、変性蛋白質、あるいはバクテリアやウィルスの持つ特定波長の電磁波を照射することによる検査装置および方法を提供する。【解決手段】食品の構成要素に固有の0.1〜10THzの範囲の周波数の電磁波を照射しうる可変波長電磁波発生手段と、前記周波数の電磁波の検出手段を持ち、前記電磁波を少なくとも所定の形状に加工された食品試料の一部に照射し、透過あるいは反射強度を測定する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

食品の構成要素に固有の0.1〜10THzの範囲の周波数の電磁波を照射しうる可変波長電磁波発生手段と、前記周波数の電磁波の検出手段を持ち、前記電磁波を少なくとも所定の形状に加工された食品試料の一部に照射し、透過あるいは反射強度を測定することを特徴とする食品検査装置および検査方法。

IPC (3件)：

G01N21/35 , G01N21/01 , G01N33/02

FI (3件)：

G01N21/35 Z , G01N21/01 C , G01N33/02

Fターム (14件)：

2G059AA05 , 2G059BB11 , 2G059BB12 , 2G059CC16 , 2G059DD12 , 2G059DD13 , 2G059DD18 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE12 , 2G059GG01 , 2G059HH01 , 2G059JJ11 , 2G059KK09

引用特許：

審査官引用 (8件)

テラヘルツ放射により物質の状態の変化を監視するためのシステムおよび方法
公報種別：公表公報出願番号：特願2001-548921 出願人：ピコメトリックスインコーポレイテッド
電磁波検出装置および検出方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-051715 出願人：独立行政法人通信総合研究所
テラヘルツ波分光計測によるターゲット判別方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-082466 出願人：独立行政法人理化学研究所

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