精度管理機能を備えた試料分析装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西野卓嗣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-365966
公開番号（公開出願番号）：特開2000-187037
出願日： 1998年12月24日
公開日（公表日）： 2000年07月04日
要約：

【要約】【課題】精度管理測定する各項目の測定情報を容易に活用することができるように、複数の精度管理結果が値として管理目標値に対しどうであるのか、管理目標範囲に入っているのかをその程度までひとめで把握できる分析装置を提供する。【解決手段】精度管理測定を行う試料分析装置において、測定する精度管理試料の管理目標値と管理目標範囲と該精度管理試料を測定して得られた精度管理測定結果とを、任意の項目についてチャート表記する表示機能を備えたことを特徴とする試料分析装置。

請求項（抜粋）：

精度管理測定を行う試料分析装置において、測定する精度管理試料の管理目標値と管理目標範囲と該精度管理試料を測定して得られた精度管理測定結果とを、任意の項目についてチャート表記する表示機能を備えたことを特徴とする試料分析装置。

IPC (3件)：

G01N 35/00 , G01N 15/14 , G01N 33/48

FI (3件)：

G01N 35/00 A , G01N 15/14 Z , G01N 33/48 Z

Fターム (11件)：

2G045CA25 , 2G045CB03 , 2G045JA04 , 2G045JA05 , 2G045JA07 , 2G058EA03 , 2G058EB01 , 2G058GA06 , 2G058GD01 , 2G058GD05 , 2G058GD06

引用特許：

審査官引用 (14件)

個体別情報開示閲覧方法及びその実施装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-166691 出願人：中央コンピュータシステム株式会社
特開平2-140153
自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-154422 出願人：株式会社東芝

全件表示

前のページに戻る