半導体装置およびその試験装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：深見久郎 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-309576
公開番号（公開出願番号）：特開平9-069288
出願日： 1995年11月28日
公開日（公表日）： 1997年03月11日
要約：

【要約】【課題】内蔵の発振器の発振周波数を外部で測定することができる半導体装置を提供する。【解決手段】 DRAMチップに設けた信号出力端子5にテスタ6を接続し、内部タイマ1から出力されるクロック信号φの周波数をモニタする。3ビットの信号TA1〜TA3の組合せを変えてクロック信号φの周波数を変化させ、設定値に最も近い周波数が得られる信号TA1〜TA3を求める。その信号TA1〜TA3を与えたのと同じ状態が得られるように、内部タイマ1内のヒューズ43を切断し、クロック信号φの周波数を設定する。

請求項（抜粋）：

クロック信号に同期して所定の動作を行なう半導体装置であって、前記クロック信号を生成するための発振器、および前記発振器から出力される前記クロック信号を外部に取出すための出力手段を備える、半導体装置。

IPC (5件)：

G11C 11/403 , G06F 1/04 302 , G06F 1/08 , G11C 11/401 , G11C 29/00 303

FI (5件)：

G11C 11/34 363 M , G06F 1/04 302 Z , G11C 29/00 303 B , G06F 1/04 320 B , G11C 11/34 371 A

引用特許：

出願人引用 (7件)

データ処理装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-244265 出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立マイコンシステム
特開昭59-089031
特開平2-073711

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審査官引用 (7件)

データ処理装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-244265 出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立マイコンシステム
特開昭59-089031
特開平2-073711

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