プリント回路基板を検査するための検査装置のモジュール

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：赤岡迪夫 , 赤岡和夫
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-534850
公開番号（公開出願番号）：特表2004-511781
出願日： 2001年09月28日
公開日（公表日）： 2004年04月15日
要約：

本発明は、プリント回路基板を検査するための検査装置のモジュールに関し、該モジュールは、-検査平面のストリップ形状をした区域の中に配置された複数の接触ポイント(4)と、そして-少なくとも検査信号を評価するための電子評価ユニットの一部を形成している電子ユニットであって、該電子ユニットが該ストリップ形状をした区域の真下の領域に配置され、該接触ポイントを備えた構造上のユニットをも形成している電子ユニットを備え、該接触ポイントは2mm以下のグリッド間隔を持つグリッド内に配置され、かつ少なくとも2個の接触ポイントが相互に電気的に接続され、そして該電気的に接続された接触ポイントは、それぞれ該電子ユニットの入力に接続されている。高い接触ポイントの密度を有するコスト低減に有効な基本グリッドを本発明によるモジュールにより提供することができる。

請求項（抜粋）：

プリント回路基板を検査するための検査装置のモジュールであって、検査平面のストリップ形状をした区域の中に配置された複数の接触ポイント(4)と、そして検査信号を評価するための電子評価ユニットの少なくとも一部を形成している電子ユニット(3)であって、該ストリップをした区域の真下の領域の中に配置され、かつ該接触ポイント(4)を備えた構造上のユニットを形成している電子ユニット(3)を含み、該接触ポイント(4)は2mm以下のグリッド間隔をもってグリッドに配置され、そして少なくとも2つの接触ポイント(4)が互いに電気的に接続されており、電気的に接続された接触ポイント(4)の各自が該電子ユニットの単一の入力へ接続されているモジュール。

IPC (3件)：

G01R31/02 , G01R1/073 , H05K3/00

FI (3件)：

G01R31/02 , G01R1/073 D , H05K3/00 T

Fターム (8件)：

2G011AA16 , 2G011AA21 , 2G011AC14 , 2G011AE01 , 2G011AF07 , 2G014AA01 , 2G014AB59 , 2G014AC10

引用特許：

審査官引用 (6件)

プリント基板検査装置用接続板およびプリント基板検査装置用接続器
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-073201 出願人：株式会社リードエレクトロニクス
プリント回路基板の試験装置及びその方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-311325 出願人：アーテーゲーテストジュステームスゲーエムベーハー
特開平2-074878

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