特許
J-GLOBAL ID：200903059044289407
散乱光等の分光測定方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野口 繁雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-271538
公開番号（公開出願番号）：特開平9-145619
出願日： 1996年09月20日
公開日（公表日）： 1997年06月06日
要約：
【要約】【課題】 従来のラマン分光システムをそのまま利用してアンチ・ストークス・ラマン散乱光を検出できるようにする。【解決手段】 レーザ2からの励起光ビーム4はバンドパスフィルタ6を通り、コリメータレンズ8によって試料10に照射される。試料10からの散乱光を受光するために、カメラレンズ12と集光レンズ14を備えた光学調整部16が設けられており、カメラレンズ12は試料10から発生する散乱光を受光し平行光にする。集光レンズ14は色収差のあるレンズであり、カメラレンズ12からの平行光を受光して集光する。集光レンズ14による集光位置には分光器18の入口スリット19が受光口として設けられており、その入口スリット19は約20μmの幅をもっている。入口スリット19は集光レンズ14の色収差によりアンチ・ストークス・ラマン散乱光が集光する位置に配置されている。
請求項（抜粋）：
励起光を試料に照射し、試料から発生する散乱光のうちアンチ・ストークス・ラマン散乱光を用いて試料中の被分析物質を測定する測定方法。
引用特許：
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