特許

J-GLOBAL ID：200903059205893938

視野計

発明者： 秋田 純一 ,  角谷 俊文 ,  藤城 章裕 ,  近藤 直幸 ,  水野 俊昭
出願人/特許権者： 株式会社ニデック
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-340139
公開番号（公開出願番号）：特開2005-102946
出願日： 2003年09月30日
公開日（公表日）： 2005年04月21日
要約：

【課題】 大きなスクリーンを必要とせず安定して視標を呈示することのできる視野計を提供する。【解決手段】 検査視標を被検眼に呈示し、該検査視標の視認の応答を行うことにより被検眼の視野計測を行う視野計において、所定の方向に偏向可能な微小ミラーの集合体からなるマイクロミラーデバイスと、該マイクロミラーデバイスに視標形成用の光束を照射する光源と、前記マイクロミラーデバイスにおける個々の微小ミラーの偏向駆動を制御して前記被検眼に向けて反射する光束を規制することにより被検眼に呈示する検査視標を形成させる制御手段と、を備える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

検査視標を被検眼に呈示し、該検査視標の視認の応答を行うことにより被検眼の視野計測を行う視野計において、所定の方向に偏向可能な微小ミラーの集合体からなるマイクロミラーデバイスと、該マイクロミラーデバイスに視標形成用の光束を照射する光源と、前記マイクロミラーデバイスにおける個々の微小ミラーの偏向駆動を制御して前記被検眼に向けて反射する光束を規制することにより被検眼に呈示する検査視標を形成させる制御手段と、を備えることを特徴とする視野計。

IPC (2件)：

A61B3/024 ,  A61B3/14

FI (2件)：

A61B3/02 F ,  A61B3/14 Z

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 視野計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-243952   出願人：キヤノン株式会社

審査官引用 (5件)

• 視野測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-202979   出願人：株式会社トプコン
• 眼科用検査機器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-282314   出願人：カールツァイスイエナゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
• 視野計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-229370   出願人：キヤノン株式会社
• 眼科装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-037551   出願人：キヤノン株式会社
• 視野計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-243952   出願人：キヤノン株式会社