特許
J-GLOBAL ID：200903059219916957

設備機器点検システム

発明者：
小川 賢治

小川 賢治 について


出願人/特許権者：
三菱電機株式会社

三菱電機株式会社 について


代理人 (4件)： 竹中 岑生 ,  大岩 増雄 ,  児玉 俊英 ,  村上 啓吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-348755
公開番号（公開出願番号）：特開2007-156670
出願日： 2005年12月02日
公開日（公表日）： 2007年06月21日
要約：
【課題】検対象設備に対応する点検条件によって点検目的を的確に遂行できる設備機器点検システムを提供する。【解決手段】被点検機器に設けられ被点検機器に対応した固有の識別情報とともに被点検機器に関する点検条件情報を記録したICタグ120を備え、点検端末10により被点検機器に対応する点検条件情報をICタグ120から取得し、ICタグ120から取得した点検条件情報に基づいて点検条件を設定して被点検機器に対する点検動作を実行するようにした。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被点検機器に設けられ被点検機器に対応した固有の識別情報とともに被点検機器に関する点検条件情報を記録した記録素子を備え、点検用端末により前記被点検機器に対応する前記点検条件情報を前記記録素子から取得し、前記記録素子から取得した前記点検条件情報に基づき点検条件を設定して前記被点検機器に対する点検動作を実行するようにしたことを特徴とする設備機器点検システム。
IPC (3件)：
G05B 23/02 ,  G06Q 50/00 ,  H04Q 9/00
FI (3件)：
G05B23/02 T ,  G06F17/60 138 ,  H04Q9/00 311W
Fターム (18件)：
5H223AA01 ,  5H223BB01 ,  5H223CC01 ,  5H223DD07 ,  5H223DD09 ,  5H223EE06 ,  5H223EE08 ,  5H223EE11 ,  5K048BA23 ,  5K048DA02 ,  5K048DB01 ,  5K048DC01 ,  5K048EA11 ,  5K048EB02 ,  5K048EB10 ,  5K048FB09 ,  5K048GB00 ,  5K048HA21
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (9件)
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