特許
J-GLOBAL ID:200903060165247270
フォトマスクの製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
韮澤 弘 (外7名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-239765
公開番号(公開出願番号):特開2000-039700
出願日: 1998年08月26日
公開日(公表日): 2000年02月08日
要約:
【要約】【課題】 基板彫り込み型の位相シフトマスクの所定の位相差を設ける透明領域間の位相差を正確に設定することができ製造方法。【解決手段】 被エッチング透明基板11と遮光パターン12とレジストパターン14aから構成される部材のエッチングにおいて、レジストパターン14aの開口部の被エッチング透明基板11部分を目的の深さまでエッチングする以前にエッチングを中断し、エッチング深さを計測し、その計測結果に基づいてエッチング不足量を算出し、その計算結果に基づいてエッチング不足量を再エッチング16bするフォトマスクの製造方法。
請求項(抜粋):
被エッチング透明基板とレジストパターン、又は、被エッチング透明基板と遮光パターンとレジストパターンから構成される部材のエッチングにおいて、前記レジストパターンの開口部の被エッチング透明基板部分を目的の深さまでエッチングする以前にエッチングを中断し、エッチング深さを計測し、その計測結果に基づいてエッチング不足量を算出し、その計算結果に基づいてエッチング不足量を再エッチングすることを特徴とするフォトマスクの製造方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G03F 1/08 A
, H01L 21/30 502 P
Fターム (9件):
2H095BB03
, 2H095BB08
, 2H095BB28
, 2H095BB31
, 2H095BC27
, 2H095BC28
, 2H095BD03
, 2H095BD18
, 2H095BD29
引用特許:
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