特許
J-GLOBAL ID：200903060748015858

光導波路配線基板又は光電気混載基板の検査方法

発明者：
竹内 孝行

竹内 孝行 について

, 
岩森 俊道

岩森 俊道 について

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浜野 利久

浜野 利久 について


出願人/特許権者：
富士ゼロックス株式会社

富士ゼロックス株式会社 について


代理人 (4件)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  西元 勝一 ,  福田 浩志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-233719
公開番号（公開出願番号）：特開2006-052992
出願日： 2004年08月10日
公開日（公表日）： 2006年02月23日
要約：
【課題】 光導波路配線基板における光導波路配線及び光電気混載基板における光導波路配線と電気配線の導通の良否を検査する方法において、検査光信号の挿入損失を低減することが可能な検査方法を提供すること。【解決手段】光導波路配線基板に形成された光導波路配線の導通の良否を、光導波路配線基板に重ねた検査用基板を用いて判定する検査方法であり、検査用基板の入力部を介して検査用光信号を光導波路配線基板面上の光入力部に入射させ、光導波路を導波した検査用光信号を光導波路配線基板面上の光出力部から出射させ検査用基板の出力部を介して取り出し検出することにより光導波路配線の導通の良否を判定する検査方法、前記検査用基板に更に電気配線検査端子を設け、光電気混載基板における光導波路及び電気配線の導通の良否を判定する検査方法。【選択図】 図9
請求項（抜粋）：
光導波路配線基板に形成された光導波路配線の導通の良否を、光導波路配線基板に重ねた検査用基板を用いて判定する検査方法であって、 前記光導波路配線基板は光導波路配線、光入出力部、及び光導波路配線基板平面に平行な面に対して角度を有する方向へ光の方向を変換することにより光導波路配線基板面上の光入出力部と光導波路を接続する光路変換手段Aを少なくとも2つ有し、 前記光導波路配線基板に重ねた検査用基板は光導波路配線基板面上の光入出力部に対応する位置に検査用光信号入出力部が設けられており、 前記検査用基板の入力部を介して検査用光信号を光導波路配線基板面上の光入力部に入射させ、光導波路を導波した検査用光信号を光導波路配線基板面上の光出力部から出射させ検査用基板の出力部を介して取り出し検出することにより光導波路配線の導通の良否を判定することを特徴とする光導波路配線基板の検査方法。
IPC (4件)：
G01M 11/00 ,  G01R 31/02 ,  H05K 3/00 ,  G02B 6/122
FI (6件)：
G01M11/00 T ,  G01R31/02 ,  H05K3/00 Q ,  H05K3/00 T ,  G02B6/12 C ,  G02B6/12 D
Fターム (20件)：
2G014AA13 ,  2G014AB59 ,  2G014AC09 ,  2G014AC11 ,  2G086EE12 ,  2H047KA05 ,  2H047KB01 ,  2H047KB08 ,  2H047KB09 ,  2H047LA09 ,  2H047LA11 ,  2H047MA05 ,  2H047MA07 ,  2H047PA02 ,  2H047PA05 ,  2H047PA21 ,  2H047PA22 ,  2H047PA24 ,  2H047PA28 ,  2H047QA05
引用特許：
出願人引用 (4件)
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