特許
J-GLOBAL ID：200903060764185895

自動分析装置

発明者：
逢坂 直樹

逢坂 直樹 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-038186
公開番号（公開出願番号）：特開2005-227211
出願日： 2004年02月16日
公開日（公表日）： 2005年08月25日
要約：
【課題】 連続分析の開始前又は途中で表示する全分析の所要時間や分析終了予定時刻の推算精度を向上させる。 【解決手段】分析毎に分析開始命令が出てから分析準備が整って実際に分析が開始されるまでの分析前準備時間を実測し、直前の分析時の分析条件から今回の分析条件への遷移状態に対応付けて実測値データを記憶させたテーブルを作成する。連続分析の所要時間を算出する際には、スケジュールに従って分析毎に分析条件の遷移状態を抽出し(S20)、テーブル中にその遷移状態に対応する実測値データがあればそれを(S21,S22)、なければデフォルト値を分析前準備時間とし(S23)、分析時間との和をとって該分析に対する所要時間とする(S24)。そして全分析について個々に所要時間を求めた後、それらの総和をとって分析所要時間とする(S26)。分析前準備時間として実測値を用いるため分析所要時間の算出精度が向上する。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
予め入力設定されたスケジュールテーブルに従って試料を順次交換・選択するとともにそれぞれ分析条件を設定して複数の試料の分析を連続的に実行する自動分析装置であって、連続分析の開始前又は連続分析の実行途中に連続分析の所要時間又は終了予定時刻を推算して提示する自動分析装置において、 a)分析実行時に各分析において分析開始命令が発せられた時点から分析の準備が整って実際に分析が開始される時点までの分析前準備時間を実測する時間測定手段と、 b)該時間測定手段による分析前準備時間の実測値データを、分析前準備時間の長さに影響を与えるパラメータに対応付けて記憶しておく記憶手段と、 c)連続分析の所要時間又は終了予定時刻を推算する際に前記記憶手段を参照し、分析前準備時間の実測値データが存在するパラメータと同一のパラメータの下での分析に対しては該実測値データを用いるともに、分析前準備時間の実測値データが存在しないパラメータの下での分析に対しては規定値を用い、これに実際に分析を実行する所要時間を加えて1分析における所要時間を算出し、スケジュールテーブルに則って最終分析までの各分析における所要時間の総和を求めて連続分析の所要時間を推算する演算処理手段と、 を備えることを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件)：
G01N35/00 ,  G01N30/86
FI (3件)：
G01N35/00 F ,  G01N35/00 A ,  G01N30/86 Q
Fターム (5件)：
2G058CB15 ,  2G058GA14 ,  2G058GD00 ,  2G058GD07 ,  2G058GE01
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-148663   出願人：株式会社島津製作所
審査官引用 (3件)
  • 特開昭63-003258
  • 検体検査自動化システム
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-354400   出願人：株式会社日立製作所
  • 臨床検査システム
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-087352   出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ

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