特許
J-GLOBAL ID：200903060983672360

電子部品の外観検査装置

発明者：
田中 一幸

田中 一幸 について


出願人/特許権者：
太陽誘電株式会社

太陽誘電株式会社 について


代理人 (1件)： 吉田 精孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-320868
公開番号（公開出願番号）：特開平8-180185
出願日： 1994年12月22日
公開日（公表日）： 1996年07月12日
要約：
【要約】【目的】 1つの電子部品から複数の画像を取り込んでその外観検査を行う場合でも、画像処理装置とCRTが夫々1台で済み、しかも一画像に対する検査処理と変わらぬ時間にて外観検査を行える外観検査装置を提供する。【構成】 2台のカメラ1,2の画像信号V1,V2をこれら入力画像全てが一画面中に区画配置されるように合成し、該画像合成信号VGに基づいて各入力画像I1 ,I2 に対し所定の検査処理を行うと共に、検査結果と一緒に2つの入力画像I1 ,I2 をCRT11に同時に表示しているので、2台のカメラ1,2を用いて検査部品Pを同時撮像する場合でも画像処理装置とCRTが夫々1台で済み、しかも一画像に対する検査処理と変わらぬ時間にて外観検査を行える。
請求項（抜粋）：
検査部品を異なる方向から同時撮像可能な複数の画像入力手段と、各画像入力手段からの画像信号を入力画像全てが一画面中に区画配置されるように合成する画像信号合成手段と、画像信号合成手段からの画像合成信号に基づいて各入力画像に対し所定の検査処理を行う画像処理手段と、画像処理手段における検査結果と共に入力画像全てを上記の区画配置をもって同時に表示する画像出力手段とを具備した、ことを特徴とする電子部品の外観検査装置。
IPC (3件)：
G06T 7/00 ,  G01N 21/88 ,  H04N 7/18
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (1件)
  • 特開昭63-257880

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