特許
J-GLOBAL ID:200903061119984046

質量分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 小川 勝男 ,  田中 恭助 ,  佐々木 孝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-170807
公開番号(公開出願番号):特開2005-353340
出願日: 2004年06月09日
公開日(公表日): 2005年12月22日
要約:
【課題】 従来装置にあったような探知率低下を防ぎ、個々の探知対象物質をより適した条件で分析することを可能にする質量分析装置を提供する。 【解決手段】 試料を導入し、蒸気化するための単一の試料導入部1と、前記単一の試料導入部から供給される前記試料の蒸気に含まれる物質ごとに特有なイオンを発生させるための複数のイオン源3、6と、前記複数のイオン源の各々に対応して設置され、前記イオンの質量分析を行なう複数の質量分析部5、8とを有し、探知すべき対象物質の分析を行なうよう構成したことを特徴とする。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
試料を導入し、蒸気化するための単一の試料導入部と、前記単一の試料導入部から供給される前記試料の蒸気に含まれる物質ごとに特有なイオンを発生させるための複数のイオン源と、前記複数のイオン源の各々に対応して設置され、前記イオンの質量分析を行なう複数の質量分析部とを有し、探知すべき対象物質の分析を行なうよう構成したことを特徴とする質量分析装置。
IPC (3件):
H01J49/04 ,  G01N27/62 ,  H01J49/26
FI (7件):
H01J49/04 ,  G01N27/62 F ,  G01N27/62 G ,  G01N27/62 H ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 L ,  H01J49/26
Fターム (3件):
5C038EE01 ,  5C038EE02 ,  5C038EF02
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (6件)
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