治具、膜厚計測装置及び方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：村瀬一美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-230240
公開番号（公開出願番号）：特開2008-051734
出願日： 2006年08月28日
公開日（公表日）： 2008年03月06日
要約：

【課題】電磁膜厚計でメッセンジャーワイヤーの膜厚値を簡便且つ正確に計測する。【解決手段】膜厚計測装置4は、メッセンジャーワイヤー1を挟持する挟持部28と、電磁膜厚計5のプローブ8が挿入される挿入口25aを有し、この挿入口25aから挿入されたプローブ8の検出部10aを素線2の表面2aに正対させた状態を保持したまま表面2aに向けて案内し、検出部10aを表面2aあるいは亜鉛めっき3に垂直に当接させる案内部25とを備えた治具6と、第1の計測値から第2の計測値を減算し、ここで得られた減算結果を、複数の膜厚値と、これらの膜厚値からなるプラスチック製の膜がそれぞれ被覆されている複数の素線2を電磁膜厚計5の計測対象にして計測して得た各計測値から第2の計測値を減算した減算結果との相関関係から導出した較正用データ18aに基づいて補正する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

撚り線を構成している強磁性体からなる複数の素線のそれぞれを被覆している非磁性膜の厚さを電磁膜厚計を利用して計測する際に用いられる治具であって、前記撚り線を挟持する挟持部と、前記電磁膜厚計のプローブが挿入される挿入口を有し、この挿入口から挿入された前記プローブの検出部を前記素線の表面に正対させた状態を保持したまま前記表面に向けて案内し、前記検出部を前記表面あるいは前記非磁性膜に垂直に当接させる案内部とを備えたことを特徴とする治具。

IPC (1件)：

G01B 7/06

FI (1件)：

G01B7/06 M

Fターム (4件)：

2F063AA16 , 2F063BC08 , 2F063BD13 , 2F063ZA08

引用特許：

出願人引用 (1件)

被覆より線の膜厚測定機
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-177682 出願人：住友電気工業株式会社

審査官引用 (10件)

特開昭62-206411
特開昭55-075608
特開昭61-038503

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