特許
J-GLOBAL ID:200903062724532285
走査型光学顕微鏡
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件):
棚井 澄雄
, 志賀 正武
, 青山 正和
, 鈴木 三義
, 高柴 忠夫
, 上田 邦生
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-268694
公開番号(公開出願番号):特開2004-109219
出願日: 2002年09月13日
公開日(公表日): 2004年04月08日
要約:
【課題】光軸外における性能劣化を防止する。【解決手段】光源11と、該光源11から発せられた照明光に任意の波面変換を与える波面変換素子22と、該波面変換素子22から発せられた波面変換後の光束を直交する2方向に走査する光走査手段3と、光走査手段3によって偏向した光束を試料に集光する対物レンズ4と、該試料から発せられた信号光を検出する検出器53とを備え、前記波面変換素子22を前記光走査手段3と同期して動作させる走査型光学顕微鏡を提供する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
光源と、該光源から発せられた照明光に任意の波面変換を与える波面変換素子と、該波面変換素子から発せられた波面変換後の光束を走査する光走査手段と、光走査手段によって偏向した光束を試料に集光する対物レンズと、該試料から発せられた信号光を検出する検出器とを備え、前記波面変換素子を前記光走査手段と同期して動作させることを特徴とする走査型光学顕微鏡。
IPC (5件):
G02B21/00
, G02B5/10
, G02B13/18
, G02B17/08
, G02B21/02
FI (5件):
G02B21/00
, G02B5/10 B
, G02B13/18
, G02B17/08 A
, G02B21/02
Fターム (31件):
2H042DD10
, 2H042DD11
, 2H042DE00
, 2H052AA07
, 2H052AB06
, 2H052AB24
, 2H052AC04
, 2H052AC15
, 2H052AC18
, 2H052AC27
, 2H052AC34
, 2H052AF06
, 2H087KA09
, 2H087LA01
, 2H087LA24
, 2H087LA27
, 2H087PA07
, 2H087PA16
, 2H087PB16
, 2H087QA02
, 2H087QA14
, 2H087QA22
, 2H087QA26
, 2H087QA33
, 2H087QA42
, 2H087QA45
, 2H087RA06
, 2H087TA01
, 2H087TA03
, 2H087TA05
, 2H087TA06
引用特許:
出願人引用 (3件)
-
試料照射装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-070538
出願人:ライカマイクロシステムズハイデルベルクゲーエムベーハー
-
走査型顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-386020
出願人:ライカミクロジュステムスハイデルベルクゲーエムベーハー
-
走査型光学顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-394934
出願人:オリンパス光学工業株式会社
審査官引用 (3件)
-
試料照射装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-070538
出願人:ライカマイクロシステムズハイデルベルクゲーエムベーハー
-
走査型顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-386020
出願人:ライカミクロジュステムスハイデルベルクゲーエムベーハー
-
走査型光学顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-394934
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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