特許
J-GLOBAL ID：200903062848487261

マザー基板、電気光学装置用基板及びその製造方法、並びに電気光学装置及び電子機器

発明者：
中山 和也

中山 和也 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (2件)： 江上 達夫 ,  中村 聡延
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-173479
公開番号（公開出願番号）：特開2006-349812
出願日： 2005年06月14日
公開日（公表日）： 2006年12月28日
要約：
【課題】 TFTアレイ基板等の電気光学装置用基板を含むマザー基板において、電気光学装置用基板を小型化し、且つ、画素の良否を高い精度で検査する。【解決手段】 マザー基板は、基板上に、画素アレイ領域内で互いに交差するように配設された複数の走査線及び複数の信号線と、該複数の信号線と前記複数の走査線との交差に対応して設けられた複数の画素部とを夫々備え、相互に間隙を隔てて平面配列された複数の電気光学装置用基板を含む。更に、間隙における基板上に複数の電気光学装置用基板から少なくとも部分的に分断可能に夫々設けられており、複数の信号線に夫々接続され且つ複数の信号線を介して画素部の良否を夫々判定する際に用いられる複数の検査用回路とを含む。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
基板上に、画素アレイ領域内で互いに交差するように配設された複数の走査線及び複数の信号線と、該複数の信号線と前記複数の走査線との交差に対応して設けられた複数の画素部とを夫々備え、相互に間隙を隔てて平面配列された複数の電気光学装置用基板と、 前記間隙における前記基板上に前記複数の電気光学装置用基板から少なくとも部分的に分断可能に夫々設けられており、前記複数の信号線に夫々接続され且つ前記複数の信号線を介して前記画素部の良否を夫々判定する際に用いられる複数の検査用回路と を含むことを特徴とするマザー基板。
IPC (6件)：
G09F 9/30 ,  G02F 1/136 ,  G02F 1/133 ,  G09G 3/36 ,  G09G 3/20 ,  G09F 9/00
FI (7件)：
G09F9/30 330Z ,  G02F1/1368 ,  G02F1/133 550 ,  G09G3/36 ,  G09G3/20 670Q ,  G09F9/30 338 ,  G09F9/00 352
Fターム (51件)：
2H092GA59 ,  2H092JA24 ,  2H092JB77 ,  2H092MA56 ,  2H092NA25 ,  2H092NA30 ,  2H092PA01 ,  2H092PA06 ,  2H093NA16 ,  2H093NC34 ,  2H093ND42 ,  2H093ND56 ,  2H093NE01 ,  5C006BB16 ,  5C006BC06 ,  5C006BC20 ,  5C006BF25 ,  5C006EB01 ,  5C006FA41 ,  5C080AA05 ,  5C080AA06 ,  5C080AA10 ,  5C080AA18 ,  5C080BB05 ,  5C080DD15 ,  5C080FF11 ,  5C080JJ03 ,  5C080JJ06 ,  5C080JJ07 ,  5C094AA15 ,  5C094BA03 ,  5C094BA27 ,  5C094BA31 ,  5C094BA43 ,  5C094DB02 ,  5C094DB05 ,  5C094EA03 ,  5C094FA01 ,  5C094GB10 ,  5C094HA08 ,  5G435AA18 ,  5G435AA19 ,  5G435BB05 ,  5G435BB06 ,  5G435BB12 ,  5G435EE37 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10 ,  5G435LL04 ,  5G435LL07 ,  5G435LL08
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (4件)
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