電子コンポーネントの移送とトラッキングのための方法及び装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：古谷馨 (外2名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-585916
公開番号（公開出願番号）：特表2002-531842
出願日： 1999年12月03日
公開日（公表日）： 2002年09月24日
要約：

【要約】元のウェーハから切り取られた後、試験を通して1つ以上の集積回路(IC)のダイを操作する際に使用するための装置。保持具は、移送、試験、及び/又は最終の用途の間に、ダイを支持する。ダイは開口を介して保持具内へ配置され、開口の基部の何らかの部分に並ぶ棚状部に存在する。ダイのスプリングコンポーネントは開口を通って下方へ伸び、棚状部の下部面を通過し、電気的接触を可能にする。ダイは、保持具の上面に結合されたカバー、又は保持具のスナップロックの使用によることを含む種々の方法で、保持具の開口内に固定され得る。1つの有用なカバーは、ダイの裏面の部分を露呈する開口を有する。カバーの開口により、ダイの裏面へのアクセスが可能になる。保持具は、試験用のテストボード、又は特定用途のプリント回路基板に装着され得る。代替として、保持具は最初にボード上に位置決めされ、その後、ダイとカバーを取り付けることができる。

請求項（抜粋）：

少なくとも1つの第1の開口を有する保持具と、前記第1の開口の少なくとも一部に並ぶ第1の棚状部と、集積回路からなるダイと、前記保持具に結合され、前記保持具の前記第1の開口内に、前記第1の棚状部により支持されたダイを保持するためのカバーとからなる装置。

IPC (3件)：

G01R 31/28 , B65D 85/86 , H01L 21/68

FI (3件)：

H01L 21/68 U , G01R 31/28 H , B65D 85/38 R

Fターム (29件)：

2G132AA00 , 2G132AA20 , 2G132AB03 , 2G132AE01 , 2G132AE02 , 2G132AE22 , 2G132AJ04 , 2G132AJ07 , 2G132AL01 , 2G132AL02 , 2G132AL06 , 2G132AL25 , 3E096AA06 , 3E096BA16 , 3E096BB03 , 3E096CA08 , 3E096CB03 , 3E096DA01 , 3E096DB02 , 3E096FA30 , 3E096GA09 , 5F031CA13 , 5F031DA05 , 5F031DA08 , 5F031EA02 , 5F031FA05 , 5F031FA11 , 5F031MA33 , 5F031MA35

引用特許：

出願人引用 (5件)

バーンイン方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-192311 出願人：住友電気工業株式会社
ICテストハンドラ用テストトレイの機構
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-336070 出願人：株式会社アドバンテスト
特開平4-080672

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審査官引用 (5件)

バーンイン方法および装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-192311 出願人：住友電気工業株式会社
ICテストハンドラ用テストトレイの機構
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-336070 出願人：株式会社アドバンテスト
特開平4-080672

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