特許
J-GLOBAL ID：200903062901166081
試験システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石田 敬 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-189465
公開番号（公開出願番号）：特開平8-054263
出願日： 1994年08月11日
公開日（公表日）： 1996年02月27日
要約：
【要約】【目的】 試験対象となる複数種のユニットを、複数種の試験セルのいずれかを使って試験する試験システムに関し、各試験セルの稼働率を向上させると共に試験設備規模を小形化することを目的とする。【構成】 第1の試験セル21の群と、第2の試験セル22の群とから構成し、第1の試験セルは使用頻度の高い試験を実施する基本部23のみを備え、一方、第2の試験セル22はその基本部23と使用頻度の低い試験を実施する増設部24の双方を備える。第2の試験セル22によってのみ試験すべきユニット12がなくなったときは、この第2の試験セル22の基本部23を、他のユニット12の試験のために提供する。
請求項（抜粋）：
試験対象となる複数種のユニット(12)の各々を、複数種の試験セル(11)のいずれかを使用して試験する試験システムにおいて、前記複数種の試験セル(11)は、基本部(23)のみからなる第1の試験セル(21)と、該基本部(23)および増設部(24)の対からなる第2の試験セル(22)とを混成してなり、ここに、前記複数種のユニット(12)によって共通に使用される頻度の高い試験を実施するための測定手段(14)により、前記第1の試験セル(21)をなす前記基本部(23)を構成し、前記複数種のユニット(12)によって使用される頻度の低い試験を実施するための測定手段(14)により、前記第2の試験セル(22)内の前記増設部(24)を構成することを特徴とする試験システム。
IPC (3件)：
G01D 21/00
, G01R 31/00
, G01R 31/28
