近赤外分析による製造運転制御方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：柳原成
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-104704
公開番号（公開出願番号）：特開2000-140619
出願日： 1999年04月13日
公開日（公表日）： 2000年05月23日
要約：

【要約】【課題】近赤外分析法による測定値に基づいて製造運転を制御する際、無駄な補完作業を省略し、検量線の補完が必要になった時点において効率よく検量線を補完・評価しながらルーチン分析を行い、その測定値に基づいてプラントを制御することが可能な近赤外分析による製造運転制御方法を提案する。【解決手段】試料を近赤外分析して得た測定値に基づいて製造運転を制御する方法であって、予め作成した検量線に基づいて試料を近赤外分析し、管理値外の測定値が得られたとき一般分析法による測定値を管理値と比較し、一般分析法の測定値が管理値外の場合は制御アクションを行い、一般分析法の測定値が管理値内の場合は過去の近赤外分析のデータを入力して予測値を求め、予測値が管理値外の場合は近赤外分析装置の点検を行い、予測値が管理値内の場合は検量線の補完を行い、近赤外分析により製造運転を制御する。

請求項（抜粋）：

試料を近赤外分析して得た測定値に基づいて製造運転を制御する方法であって、予め作成した検量線に基づいて試料を近赤外分析し、管理値外の測定値が得られたとき一般分析法による測定値を管理値と比較し、一般分析法の測定値が管理値内の場合は過去の近赤外分析のデータを入力して予測値を求め、予測値が管理値外の場合は近赤外分析装置の点検を行い、予測値が管理値内の場合は検量線の補完・評価を行うことを特徴とする近赤外分析による製造運転制御方法。

IPC (7件)：

B01J 19/00 , G01N 21/27 , G01N 21/35 , G01N 30/04 , G01N 30/74 , G01N 30/86 , C07B 61/00

FI (7件)：

B01J 19/00 J , G01N 21/27 F , G01N 21/35 Z , G01N 30/04 P , G01N 30/74 E , G01N 30/86 R , C07B 61/00 C

Fターム (16件)：

2G059AA01 , 2G059BB15 , 2G059CC20 , 2G059EE12 , 2G059FF06 , 2G059HH01 , 2G059KK10 , 2G059MM02 , 2G059MM03 , 2G059MM05 , 2G059MM12 , 4G075AA01 , 4G075AA65 , 4G075CA34 , 4G075DA04 , 4H006AA02

引用特許：

出願人引用 (6件)

特開昭60-135842
校正機能付きプロセス計装ラック
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-045659 出願人：株式会社東芝
自動化学分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-261792 出願人：株式会社島津製作所

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審査官引用 (6件)

品質管理システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-180001 出願人：出光興産株式会社, 横河電機株式会社
近赤外分光分析計
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-096740 出願人：横河電機株式会社
特開昭60-135842

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