特許
J-GLOBAL ID:200903063953192818

X線診断装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉谷 勉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-349096
公開番号(公開出願番号):特開2007-151724
出願日: 2005年12月02日
公開日(公表日): 2007年06月21日
要約:
【課題】透視モードから撮影モードに速やかに切り換えることができるX線診断装置を提供する。【解決手段】X線診断装置を構成するFPDは、導電性を有する支持基板と、CdTe(テルル化カドミウム)、ZnTe(テルル化亜鉛)、および、これらの混合結晶のいずれかからなる感応半導体膜とを備えている。これにより、撮影モードにおいても、透視モードにおけるX線の線量と略同じ線量で足りるほど、FPDの感度は高い。したがって、高電圧装置は、撮影モードの際、フィラメントに供給する加熱電流を、透視モードに応じたフィラメントの加熱電流と同じとする。このように構成することで、透視モードから撮影モードに移行する際(時刻t1)に、従来必要であったフィラメントの温度制御のためのインターロック期間を不要とすることができ、時刻t1後に最初にビデオ同期信号が出力された時から撮影モードに移行できる。【選択図】図5
請求項(抜粋):
X線画像をリアルタイムで表示する透視モードと、X線画像を記録する撮影モードとを行うX線診断装置において、被検体にX線を照射するX線管と、透視および撮影モードに応じて、前記X線管に付設されるフィラメントに加熱電流を供給しつつ、前記X線管に所定の管電流・管電圧を与えることによって、X線の照射を制御する高電圧装置と、被検体を透過したX線を検出するX線検出手段と、前記X線検出手段から得られた検出信号に基づいてX線画像を作成する画像処理手段と、を備え、前記X線検出手段は、導電性を有する支持基板と、前記支持基板に積層形成されるとともにX線に感応してキャリア(電子、正孔)を生成する感応半導体膜であって、CdTe(テルル化カドミウム)、ZnTe(テルル化亜鉛)、および、これらの混合結晶のいずれかからなるものと、前記感応半導体膜から得られたキャリアを検出信号として読み出す素子を含む読み出し手段とを備え、前記撮影モードの場合には、フィラメントの加熱電流を、透視モードに応じたフィラメントの加熱電流と略同じとすることを特徴とするX線診断装置。
IPC (1件):
A61B 6/00
FI (2件):
A61B6/00 320Z ,  A61B6/00 300S
Fターム (13件):
4C093AA01 ,  4C093AA08 ,  4C093CA39 ,  4C093DA02 ,  4C093EB13 ,  4C093EC16 ,  4C093FA14 ,  4C093FA18 ,  4C093FA19 ,  4C093FA42 ,  4C093FA48 ,  4C093FA52 ,  4C093FA59
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (8件)
  • 特公平5-081892
  • 放射線検出器およびそれを備えた放射線撮像装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2003-176041   出願人:株式会社島津製作所
  • X線診断装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-053881   出願人:株式会社東芝
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