特許
J-GLOBAL ID：200903063976979394
多分岐光線路試験方法及びその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
志賀 正武 (外9名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-090437
公開番号（公開出願番号）：特開平11-289298
出願日： 1998年04月02日
公開日（公表日）： 1999年10月19日
要約：
【要約】【課題】 多分岐光線路の障害発生時刻・障害発生回線及び障害発生位置を自動的に検出することができる多分岐光線路試験方法及びその装置を提供すること。【解決手段】 ステップS1では、多分岐光線路に光パルスを入射し、応答光を光電変換する。ステップS2では、該電気信号値を対数変換する。ステップS3では、該応答光の波形をフレネル反射点で分割する。ステップS4では、各範囲の対数波形データをHough変換する。ステップS5では、Hough変換された対数波形データを中央値フィルタ処理する。ステップS6では、中央値フィルタ処理された対数波形データを逆Hough変換する。ステップS7では、逆Hough変換された対数波形データを逆対数変換した後、減衰定数分離解析を行う。ステップS8では、ステップS1〜S7を繰り返して減衰定数を収集し、ステップS9では、該減衰定数に基づいて、多分岐光線路の障害を判定する。
請求項（抜粋）：
複数の光線路に分岐した多分岐光線路の分岐点に、光パルスを導入する第1の過程と、前記各光線路の各部で発生した前記光パルスの反射光が重なった応答光を受光する第2の過程と、前記各応答光を光電変換した電気信号の値を、対数波形データに対数変換すると共に、該応答光の波形を、該波形のフレネル反射点を分割点として分割する第3の過程と、分割された各範囲について、該範囲の各対数波形データを、Hough変換する第4の過程と、分割された各範囲について、Hough変換された各対数波形データを、中央値フィルタ処理する第5の過程と、分割された各範囲について、中央値フィルタ処理された各対数波形データを、逆Hough変換する第6の過程と、分割された各範囲について、逆Hough変換された各対数波形データを、リニア波形データに逆対数変換する第7の過程と、分割された各範囲について、前記リニア波形データに基づいて、減衰定数分離解析を行い、該各範囲の減衰定数を算出する第8の過程と、前記第1の過程から前記の第8の過程を繰り返し、該繰り返しにより得られた各減衰定数に基づいて、前記多分岐光線路の障害発生時刻、障害発生回線及び障害発生位置を判定する第9の過程とを具備することを特徴とする多分岐光線路試験方法。
IPC (3件)：
H04B 10/08
, H04B 3/46
, H04B 10/02
H04B 9/00 K
, H04B 3/46 B
, H04B 3/46 E
, H04B 3/46 M
, H04B 9/00 U
