特許
J-GLOBAL ID：200903064011093365

冷却機構を備えた熱分析装置

発明者：
西村 晋哉

西村 晋哉 について


出願人/特許権者：
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社

エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 について


代理人 (1件)： 松下 義治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-313086
公開番号（公開出願番号）：特開2005-083763
出願日： 2003年09月04日
公開日（公表日）： 2005年03月31日
要約：
【課題】 急激な冷却を行なう場合にもガスの消費を抑えて-100°C以下の温度へも冷却することが可能な冷却装置を備えた熱分析装置を提供することを課題とする。【解決手段】 ガス冷却装置のための冷却ガス導入口2、排気口3と電気冷却装置固定器機構6を備えた冷却装置を提供し、冷却装置と熱分析装置が熱的に接触されている。これにより、ガス冷却装置と電気冷却装置を同時に接続することを可能とした。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
試料を加熱冷却した時に試料に生じる変化を測定する熱分析装置において、試料を収納するヒートシンクと、前記ヒートシンクを過熱するヒーターと、前記ヒートシンクに熱接触された冷却機構とを有し、前記冷却機構は、環状空洞管を有し、前記環状空洞管には冷却ガスを導入する管および排気する管が設けられると共に、電気冷却装置の冷却ヘッドを固定する冷却ヘッド固定部が設けられていることを特徴とする熱分析装置。
IPC (1件)：
G01N25/00
FI (1件)：
G01N25/00 M
Fターム (7件)：
2G040AB05 ,  2G040AB12 ,  2G040CA02 ,  2G040DA03 ,  2G040EA02 ,  2G040EA08 ,  2G040EC09
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 特公平7-122619(第4欄、第1図)
  • 特公平7-65974(第4欄、第1図)
審査官引用 (5件)
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