特許
J-GLOBAL ID：200903064041334480

速度計、変位計、振動計および電子機器

発明者：
和田 秀夫

和田 秀夫 について

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椙山 尚和

椙山 尚和 について

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民長 隆之

民長 隆之 について


出願人/特許権者：
シャープ株式会社

シャープ株式会社 について


代理人 (3件)： 山崎 宏 ,  前田 厚司 ,  仲倉 幸典
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-290922
公開番号（公開出願番号）：特開2005-061928
出願日： 2003年08月08日
公開日（公表日）： 2005年03月10日
要約：
【課題】大型化を阻止できると共に、被測定物の2次元の移動速度および移動方向を検出できる小型な速度計を提供する。【解決手段】半導体レーザ1が、前端面から第1の光束7を出射すると共に、後端面から第2の光束8を出射する。第1,第2の光束7,8は、回折格子3a,3bとビームスプリッタ9a,9b,9c,9dとを順次経由して複数の光束に分割される。この複数の光束を被測定物13の表面に照射して、x軸上に検出点14a,14bを形成すると共に、y軸上に検出点14c,14dを形成する。【選択図】図9
請求項（抜粋）：
前端面から第1の光束を出射すると共に、後端面から第2の光束を出射する半導体発光素子と、 上記第1,第2の光束を分岐する第1の光分岐素子群と、 上記第1の光分岐素子群と被測定物との間の複数の光軸上に配置され、上記第1の光分岐素子群からの光束を分岐する第2の光分岐素子群と、 上記被測定物による散乱光を受ける受光素子と、 上記受光素子の出力から周波数偏移量を算出する信号処理回路部とを備え、 上記第2の光分岐素子群で分岐した複数の光束を上記被測定物の表面に照射して、上記被測定物の表面を含む平面内において互いに交差するx,y軸のうちの少なくとも上記x軸上に第1,第2検出点を形成すると共に、少なくとも上記y軸上に第3,第4検出点を形成することを特徴とする速度計。
IPC (2件)：
G01P3/36 ,  G01B11/00
FI (2件)：
G01P3/36 E ,  G01B11/00 G
Fターム (20件)：
2F065AA03 ,  2F065AA09 ,  2F065BB15 ,  2F065DD02 ,  2F065FF36 ,  2F065FF52 ,  2F065GG06 ,  2F065HH03 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL04 ,  2F065LL10 ,  2F065LL12 ,  2F065LL30 ,  2F065LL36 ,  2F065LL42 ,  2F065MM02 ,  2F065QQ14 ,  2F065UU07
引用特許：
出願人引用 (12件)
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審査官引用 (7件)
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