特許
J-GLOBAL ID：200903064597352640
高感度磁束密度計による金属材料の損傷評価装置、その損傷評価方法及びその損傷評価システム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小林 英一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-197514
公開番号（公開出願番号）：特開2008-026086
出願日： 2006年07月20日
公開日（公表日）： 2008年02月07日
要約：
【課題】繰り返し応力が作用する評価部位に適用でき、正確かつ簡便にき裂の発生・進展挙動を評価することが可能な高感度磁束密度計による金属材料の損傷評価装置、その損傷評価方法、及びその損傷評価システムを提供する。【解決手段】被測定物の磁束密度を測定可能な高感度磁束密度計と、それで測定した磁束密度情報及び前記評価部位に作用する応力の繰り返し数情報が共に入力可能とされた演算処理手段とを具備し、高感度磁束密度計のプローブを評価部位に非接触状態で対向配置した金属材料の損傷評価装置、その損傷評価方法、及びその損傷評価システム。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
繰り返し応力が作用する評価部位に適用し、き裂の発生・進展挙動を評価するための金属材料の損傷評価装置であって、被測定物の磁束密度を測定可能な高感度磁束密度計と、それで測定した磁束密度情報及び前記評価部位に作用する応力の繰り返し数情報が共に入力可能とされた演算処理手段とを具備し、前記高感度磁束密度計のプローブを前記評価部位に非接触状態で対向配置したことを特徴とする金属材料の損傷評価装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (24件)：
2G017AA07
, 2G017AC08
, 2G017AD52
, 2G053AA11
, 2G053AA14
, 2G053AA19
, 2G053AB01
, 2G053BA02
, 2G053BA15
, 2G053CA05
, 2G053CB21
, 2G053CB28
, 2G061AA17
, 2G061AB06
, 2G061BA03
, 2G061CA02
, 2G061CB07
, 2G061DA03
, 2G061DA12
, 2G061DA20
, 2G061EA04
, 2G061EB06
, 2G061EC02
, 2G061EC07
