特許
J-GLOBAL ID:200903065937257970

半導体装置およびその作製方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-097689
公開番号(公開出願番号):特開2000-349301
出願日: 2000年03月31日
公開日(公表日): 2000年12月15日
要約:
【要約】【課題】 微小なコンタクトホールを形成し、集積回路を微細化することを目的とする。【解決手段】 スイッチング素子および各配線を覆う層間絶縁膜111として有機材料を用い、且つ、金属膜112のマスクを用い、ドライエッチング法によってコンタクトホールを形成し、配線114を形成する。
請求項(抜粋):
導電性を有する材料層上に有機材料からなる層間絶縁膜と、前記層間絶縁膜上に第1の金属層と、前記第1の金属層上に第2の金属層とを有し、前記層間絶縁膜に設けられたコンタクトホールの底部で前記導電性を有する材料層と前記第2の金属層が接続されていることを特徴とする半導体装置。
IPC (6件):
H01L 29/786 ,  G02F 1/136 ,  G09F 9/00 338 ,  G09F 9/00 348 ,  H01L 21/768 ,  H01L 21/336
FI (9件):
H01L 29/78 616 T ,  G02F 1/136 ,  G09F 9/00 338 ,  G09F 9/00 348 A ,  H01L 21/90 A ,  H01L 21/90 S ,  H01L 29/78 612 C ,  H01L 29/78 616 U ,  H01L 29/78 616 K
引用特許:
審査官引用 (11件)
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