特許
J-GLOBAL ID：200903065948273004
分析用チップ及びその製造方法、分析装置並びに分析方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
木森 有平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-258045
公開番号（公開出願番号）：特開2008-076313
出願日： 2006年09月22日
公開日（公表日）： 2008年04月03日
要約：
【課題】 局在プラズモン共鳴(LSPR)による測定結果である吸収ピークの吸光度変化と干渉分光法による測定結果である吸収ピーク波長のシフトとの両方において大きな変化量を得ることを可能とする。【解決手段】 互いに平行な方向に延びる多数の細孔6が略等間隔に配列され、細孔6が一方の面に開口した多孔質層3と、多孔質層3の開口面4上に形成された金属層5とを備え、金属層5が多孔質層3の開口面4上と細孔6の開口部近傍の孔壁面とに形成されている。多孔質層3は陽極酸化アルミナ皮膜であることが好ましい。金属層5は、Cr、Ti、Niから選ばれる少なくとも1種を含む下地層と、Au、Agから選ばれる少なくとも1種を含む表面層とをこの順に積層して構成される。細孔6の内部には金属微粒子が存在しない。当該分析用チップ1表面への物質の吸着が、当該分析用チップ1に光を照射したとき、局在プラズモン共鳴及び干渉効果による吸光度変化及び波長シフトとして観察される。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
互いに平行な方向に延びる多数の細孔が略等間隔に配列され、前記細孔が一方の面に開口した多孔質層と、前記多孔質層の開口面上に形成された金属層とを備え、前記金属層が前記多孔質層の開口面上と前記細孔の開口部近傍の孔壁面とに形成されていることを特徴とする分析用チップ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/27 C
, G01N21/45 A
2G059AA01
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059EE12
, 2G059GG10
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059JJ01
, 2G059JJ17
, 2G059KK01
, 2G059MM04
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (5件)
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