特許
J-GLOBAL ID：200903065980323684

X線像の画像処理方法

発明者：
森 憲久

森 憲久 について


出願人/特許権者：
日本電子株式会社

日本電子株式会社 について


代理人 (1件)： 蛭川 昌信 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-041142
公開番号（公開出願番号）：特開2003-240738
出願日： 2002年02月19日
公開日（公表日）： 2003年08月27日
要約：
【要約】【課題】 先鋭化処理を施し、かつノイズの増幅は抑え、電子線の散乱によるX線像の滲みを軽減する。【解決手段】 電子線を照射した試料から発生する特性X線を検出して得られるX線像に対する画像処理方法において、電子線の試料中での広がりに電子ビームの太さを加えてX線信号の発生領域を算出し、算出したX線の発生領域に対して先鋭化処理を施すようにしたものである。
請求項（抜粋）：
電子線を照射した試料から発生する特性X線を検出して得られるX線像に対する画像処理方法において、電子線の試料中での広がりに電子ビームの太さを加えてX線信号の発生領域を算出し、算出したX線の発生領域に対して先鋭化処理を施すことを特徴とするX線像の画像処理方法。
IPC (4件)：
G01N 23/225 ,  G06T 5/20 ,  H01J 37/22 502 ,  H01J 37/252
FI (4件)：
G01N 23/225 ,  G06T 5/20 B ,  H01J 37/22 502 H ,  H01J 37/252 A
Fターム (27件)：
2G001AA03 ,  2G001CA01 ,  2G001EA01 ,  2G001FA06 ,  2G001FA08 ,  2G001FA14 ,  2G001FA29 ,  2G001FA30 ,  2G001GA04 ,  2G001GA05 ,  2G001GA06 ,  2G001GA08 ,  2G001PA11 ,  2G001PA14 ,  5B057AA08 ,  5B057BA03 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE03 ,  5C033PP06
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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