特許
J-GLOBAL ID：200903066779534657

電気光学装置及び電子機器

発明者：
吉井 栄仁

吉井 栄仁 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (2件)： 江上 達夫 ,  中村 聡延
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-040286
公開番号（公開出願番号）：特開2009-198807
出願日： 2008年02月21日
公開日（公表日）： 2009年09月03日
要約：
【課題】電気光学装置の検査時に的確な検査を行う。【解決手段】電気光学装置において、基板10上に複数の検査端子103は、検査信号Cx1〜Cx8、YEPR、及びYEPLが出力される一部の検査端子103o及び103yについて夫々、所定の周波数のクロック信号CLX及び反転クロック信号CLXB、並びに転送開始パルスDXが夫々入力される他の検査端子103iの各々と互いに隣り合わないように配列される。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
基板と、 該基板上に配列された複数の画素部と、 前記複数の画素部を駆動させる駆動回路と、 前記基板上に設けられ、前記駆動回路による前記複数の画素部の駆動についての検査を行う検査回路と、 前記基板上に設けられ、前記検査の際、前記検査回路及び前記駆動回路における入出力信号が夫々入出力される複数の検査端子と を備え、 前記複数の検査端子は、前記入出力信号として前記検査のための出力信号が出力される一部の検査端子と、前記入出力信号として所定の周波数の入出力信号が入出力される他の検査端子とが互いに隣り合わないように配列される ことを特徴とする電気光学装置。
IPC (5件)：
G02F 1/134 ,  G09F 9/30 ,  G09F 9/00 ,  G02F 1/136 ,  H01L 29/786
FI (6件)：
G02F1/1345 ,  G09F9/30 330Z ,  G09F9/00 352 ,  G09F9/30 338 ,  G02F1/1368 ,  H01L29/78 624
Fターム (33件)：
2H092GA44 ,  2H092GA61 ,  2H092JA24 ,  2H092JB13 ,  2H092JB77 ,  2H092MA57 ,  2H092NA25 ,  2H092NA30 ,  5C094AA32 ,  5C094AA42 ,  5C094AA43 ,  5C094AA46 ,  5C094AA48 ,  5C094BA03 ,  5C094BA27 ,  5C094BA31 ,  5C094BA43 ,  5C094CA19 ,  5C094DB03 ,  5C094EA03 ,  5C094GB10 ,  5F110AA24 ,  5F110BB02 ,  5F110NN72 ,  5F110NN73 ,  5G435AA17 ,  5G435AA19 ,  5G435BB05 ,  5G435BB06 ,  5G435BB12 ,  5G435CC09 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (4件)
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