特許
J-GLOBAL ID:200903066826583670

電界効果トランジスタ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 後藤 洋介 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-250571
公開番号(公開出願番号):特開平9-092819
出願日: 1995年09月28日
公開日(公表日): 1997年04月04日
要約:
【要約】【課題】 InGaAs動作層とInAlAs電子供給層を用いた電界効果トランジスタにおいて、熱的安定性に優れた構造を提供する。【解決手段】 少なくとも一部にn型ドーパントが添加されたInAlAs電子供給層4を有する電界効果トランジスタである。InAlAs電子供給層4とゲート電極10との間には、In<SB>x </SB>Al<SB>y </SB>Ga<SB>1-x-y </SB>As保護層5(y<0.3)が設けられている。【効果】 Al組成の小さいIn<SB>1-x-y </SB>Al<SB>y </SB>Ga<SB>x </SB>As層5を導入することにより、外部からの不純物が、InAlAs電子供給層4中のn-InAlAs層に到達し、n型ドーパントを不活性化することを抑えることができる。したがって、ゲート電極10形成後の熱工程においても、素子特性の劣化を抑制することができる。
請求項(抜粋):
少なくとも一部にn型ドーパントが添加されたInAlAs電子供給層を有する電界効果トランジスタにおいて、該InAlAs電子供給層とゲート電極との間にIn<SB>x </SB>Al<SB>y </SB>Ga<SB>1-x-y </SB>As保護層(y<0.3)が設けられたことを特徴とする電界効果トランジスタ。
IPC (4件):
H01L 29/778 ,  H01L 21/338 ,  H01L 29/812 ,  H01L 29/872
FI (3件):
H01L 29/80 H ,  H01L 29/48 F ,  H01L 29/48 H
引用特許:
審査官引用 (4件)
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