特許
J-GLOBAL ID：200903066925800402
圧力分布測定システム及び校正用測定子
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
大熊 岳人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-186029
公開番号（公開出願番号）：特開2007-279013
出願日： 2006年07月05日
公開日（公表日）： 2007年10月25日
要約：
【課題】測定対象物に圧力孔を形成する必要がなく安価で簡単な構成によって圧力分布を手軽に測定することができる圧力分布測定システム及び校正用測定子を提供する。【解決手段】測定対象物1は、気流Fを受ける物体であり、模型又は実物の試験体(供試体)である。圧力分布測定システム2は、測定対象物1に作用する圧力分布を測定するシステムである。校正用測定子3は、測定対象物1の表面1aの圧力測定値を校正するために、この測定対象物1とともに気流Fを受ける装置であり、測定対象物1の表面1aの感圧塗料と同一の感圧塗料が表面に塗布されている。圧力分布測定システム2は、校正用測定子3の表面の感圧塗料の発光強度を測定して、測定対象物1の表面1aの圧力測定値を校正するための校正係数を演算し、測定対象物1の表面1aの感圧塗料の発光強度とこの校正係数とに基づいて、測定対象物1の表面1aの圧力分布を演算する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
気流を受ける測定対象物の表面に感圧塗料を塗布してこの測定対象物の表面の圧力分布を測定する圧力分布測定システムであって、
前記測定対象物の表面の圧力測定値を校正するために、この測定対象物とともに気流を受ける校正用測定子と、
前記校正用測定子の表面の感圧塗料の発光強度に基づいて、前記測定対象物の表面の圧力測定値を校正するための校正係数を演算する校正係数演算手段と、
を備える圧力分布測定システム。
IPC (5件)：
G01L 5/00
, G01L 27/00
, G01L 1/00
, G01K 13/02
, G01M 9/06
G01L5/00 101Z
, G01L27/00
, G01L1/00 G
, G01L1/00 B
, G01K13/02
, G01M9/06
2F051AA02
, 2F051AB03
, 2F051BA01
, 2F055AA01
, 2F055BB20
, 2F055CC59
, 2F055DD11
, 2F055EE31
, 2F055FF43
, 2F055HH01
, 2F056WF03
, 2F056WF05
, 2G023AB22
, 2G023AC01
出願人引用 (1件)
-
光学的圧力場計測装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-161411
出願人：三菱重工業株式会社
審査官引用 (6件)
全件表示
引用文献：
前のページに戻る
