特許
J-GLOBAL ID：200903068025893530
X-Y方式インサーキットテスタのZ軸ユニットに備えるラインプローブ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柳沢 大作
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-116546
公開番号（公開出願番号）：特開平8-285888
出願日： 1995年04月17日
公開日（公表日）： 1996年11月01日
要約：
【要約】【目的】 リードピッチの異なる多種類のICに対応し易くして、検査をスピード化する。【構成】 絶縁ベース12に多数のピンプローブ14を互いに離して先端18が直線状に並ぶように備え付け、それ等の各ピンプローブ14の先端18の幅と隣接する両ピンプローブ14の先端18の中心間距離をリードピッチの異なる多種類のICに対し、いずれかのピンプローブ14の先端18が各ICの1ブロックに属する少なくとも一部の連続的に並ぶ全てのリード又はそれ等の各リードに対応する全てのパターンと接触可能となるように決定し、各リード又は各パターンに対するピンプローブ14の接触本数を最多で2本にする。
請求項（抜粋）：
X-Y方式により可動するZ軸ユニットにラインプローブを設置し、そのZ軸ユニットでラインプローブの絶縁ベースをZ軸方向に可動可能に支持し、その絶縁ベースに多数のピンプローブを互いに離して先端が直線状に並ぶように備え付けてなるX-Y方式インサーキットテスタのZ軸ユニットに備えるラインプローブにおいて、上記各ピンプローブの先端の幅と隣接する両ピンプローブの先端の中心間距離をリードピッチの異なる多種類のICに対し、いずれかのピンプローブの先端が各ICの1ブロックに属する少なくとも一部の連続的に並ぶ全てのリード又はそれ等の各リードに対応する全てのパターンと接触可能となるように決定し、各リード又は各パターンに対するピンプローブの接触本数を最多で2本にすることを特徴とするX-Y方式インサーキットテスタのZ軸ユニットに備えるラインプローブ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 1/073 D
, G01R 31/28 K
