微弱発光分析装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：藤本博光 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-304329
公開番号（公開出願番号）：特開平11-142242
出願日： 1997年11月06日
公開日（公表日）： 1999年05月28日
要約：

【要約】【課題】 2次元の広がりを有する試料物質の各所から、この試料に含まれる分子成分の電子状態間の遷移をもととして放射される例えばケミルミネッセンスなどの光を分光測定し、測定によって得られたデータを演算処理することによって試料物質の特性と状態を評価する情報データを抽出して発信する分析装置の提供する。【解決手段】光検出部10に光学的に密着して設けられた試料室1に発光源となる試料2を納め、光検出部10では、分子の電子状態間の遷移にもとづく発光を測定して分析し、データ処理部100により光検出部10における検出信号データを演算処理して試料の特性情報を抽出して表示する。

請求項（抜粋）：

分子の電子状態間の遷移に基づく発光を測定する光検出部と、光検出部に光学的に密着して設けられた発光源となる試料を納める試料室と、光検出部における検出信号データを演算処理して試料の特性情報を抽出して出力するデータ処理部とからなる微弱発光分析装置であって、光検出部が、Savart板とレンズとからなり測定対象の試料を発した光波によるインタフェログラムを前記レンズの焦点面に形成するSavart板複屈折偏光干渉計と、前記インタフェログラムの形成位置に配置した検出器アレイとでなり、データ処理部が、前記光検出部の検出器アレイの検出信号を一定時間毎に読み出してデジタルデータに変換して1次データとしてメモリに格納する検出器読取部と、該検出器読取部に格納された1次データをもとにインタフェログラムデータを生成した後フーリエ変換して試料が発した光のスペクトルを求め、求めたスペクトルデータを解析して測定対象試料の評価情報を抽出するとともに装置の作動制御を行う制御演算部とからなることを特徴とする微弱発光分析装置。

IPC (4件)：

G01J 3/443 , G01J 3/45 , G01N 21/64 , G01N 21/76

FI (4件)：

G01J 3/443 , G01J 3/45 , G01N 21/64 Z , G01N 21/76

引用特許：

審査官引用 (11件)

特開平1-112122
スペクトル検出方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-034089 出願人：日本分光株式会社
特開昭62-251627

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