特許
J-GLOBAL ID:200903069156355319

ネジの検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 豊栖 康弘 ,  豊栖 康司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-020575
公開番号(公開出願番号):特開2005-214751
出願日: 2004年01月28日
公開日(公表日): 2005年08月11日
要約:
【課題】ネジを一定のピッチで正確に移送して、多量のネジを正確に能率よく検査する。【解決手段】ネジの検査装置は、ネジ頭1Aを上面に引っかける状態で移送する案内部3を円弧状の外周縁部に所定の間隔で設けている円盤2と、この案内部3にネジ1を供給する供給機構4と、円盤2の外側に配設している移送ガイド5と、円盤2で移送されるネジ1を検査する検査機構6とを備える。検査機構6は、ネジ1に向かって光を照射する光源7と、光源7から照射された光を受光してネジ1の輪郭をシルエットの映像信号に変換するカメラ8と、カメラ8から出力される映像信号を演算して、ネジ1を画像処理して検査する演算検査器9とを備える。円盤2は、内側に貫通孔10を設けており、この貫通孔10の内部に光源7を配設して、円盤2の外側にカメラ8を配設している。検査装置は、カメラ8から出力される映像信号を演算検査器9で演算処理してネジ1を検査する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
円弧状の外周縁部に、ネジ(1)の軸部(1B)を入れてネジ頭(1A)を上面に引っかける状態で移送する案内部(3)を所定の間隔で設けている円盤(2)と、この円盤(2)の案内部(3)にネジ(1)を供給する供給機構(4)と、この供給機構(4)で案内部(3)に供給されたネジ(1)を案内部(3)に保持して移送するように、円盤(2)の外側に配設している移送ガイド(5)と、円盤(2)でもって移送されるネジ(1)を検査する検査機構(6)とを備えており、 検査機構(6)は、ネジ(1)に向かって光を照射する光源(7)と、光源(7)から照射された光を受光してネジ(1)の輪郭を示すシルエットの映像信号に変換するカメラ(8)と、このカメラ(8)から出力される映像信号を演算して、ネジ(1)を画像処理して検査する演算検査器(9)とを備えており、 円盤(2)は、内側に貫通孔(10)を設けて、この貫通孔(10)の内部に光源(7)を配設しており、光源(7)は、円盤(2)の内側から外周に向かって光を照射して、案内部(3)のネジ(1)に向かって光を照射するように配置しており、カメラ(8)は円盤(2)の外側に配設されて、光源(7)からネジ(1)に向かって照射される光をカメラ(8)で受光して、ネジ(1)をシルエットの映像として撮像して映像信号を出力し、カメラ(8)から出力される映像信号を演算検査器(9)で演算処理してネジ(1)を検査するようにしてなるネジの検査装置。
IPC (4件):
G01N21/88 ,  B07C5/342 ,  G01B11/24 ,  G06T1/00
FI (5件):
G01N21/88 Z ,  B07C5/342 ,  G06T1/00 400C ,  G06T1/00 420F ,  G01B11/24 K
Fターム (46件):
2F065AA52 ,  2F065AA61 ,  2F065CC04 ,  2F065DD09 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065GG02 ,  2F065GG07 ,  2F065GG18 ,  2F065GG24 ,  2F065HH02 ,  2F065HH13 ,  2F065HH17 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065KK01 ,  2F065KK02 ,  2F065MM04 ,  2F065PP12 ,  2F065RR06 ,  2F065UU03 ,  2F065UU04 ,  2G051AA07 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051CB02 ,  2G051DA02 ,  2G051DA13 ,  3F079AD01 ,  3F079CA18 ,  3F079CA21 ,  3F079CA23 ,  3F079CA41 ,  3F079CB25 ,  3F079CB29 ,  3F079CC03 ,  3F079DA03 ,  3F079DA21 ,  5B047AA11 ,  5B047AB01 ,  5B047BA01 ,  5B047BB04 ,  5B047BC12 ,  5B047BC16 ,  5B047BC18
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (3件)
  • 頭部付き軸体の選別装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-038749   出願人:株式会社ユタカ
  • ワーク検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-316531   出願人:株式会社ユタカ
  • 特開昭61-100604

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