特許
J-GLOBAL ID：200903069166735551

質量分析計及び質量分析方法

発明者：
杉山 益之

杉山 益之 について

, 
橋本 雄一郎

橋本 雄一郎 について

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長谷川 英樹

長谷川 英樹 について

, 
高田 安章

高田 安章 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (2件)： 井上 学 ,  戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-006372
公開番号（公開出願番号）：特開2009-170238
出願日： 2008年01月16日
公開日（公表日）： 2009年07月30日
要約：
【課題】 従来のMS/MS分析方法では、スループットと前駆体イオンの質量分解能の両立ができないという課題を有していた。【解決手段】 特定の質量範囲のイオンを排出するイオントラップと、イオントラップから排出されたイオンを解離させる衝突解離部と、衝突解離部から排出されたイオンの質量分析を行う質量分析部を有した質量分析装置によって、イオントラップに導入、蓄積されたイオンを質量選択的に共鳴排出する。衝突解離部への入射エネルギーが低い条件で測定を行い前駆体イオンのイオントラップ部の質量軸でのプロファイルと質量分析部でのプロファイルの組を取得する。次に衝突解離部への入射エネルギーが高い条件で測定を行い、得られた2次元質量スペクトルのイオントラップ部の質量軸でのプロファイルを質量分析部の質量軸でのプロファイルに置き換える。以上の方法により前駆体イオンとフラグメントイオンの両方のm/zを高い質量分解能で決定することができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
特定の質量範囲の前駆体イオンを排出するイオントラップと、 前記イオントラップの後段に配置され前記前駆体イオンを解離させる解離部と、 前記解離部の後段に配置され前記前駆体イオンまたは前駆体イオンを解離させることで生じたフラグメントイオンの質量分析を行う質量分析部と、 前記質量分析部に接続され2次元質量スペクトルにおける前記イオントラップの質量軸での前記前駆体イオンのプロファイルを前記質量分析部の質量軸での前記前駆体イオンのプロファイルに置き換えるプロファイル置き換え手段を備えた制御部と、を有することを特徴とする質量分析装置。
IPC (3件)：
H01J 49/42 ,  H01J 49/40 ,  G01N 27/62
FI (5件)：
H01J49/42 ,  H01J49/40 ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 L ,  G01N27/62 Y
Fターム (12件)：
2G041CA01 ,  2G041EA04 ,  2G041GA03 ,  2G041GA06 ,  2G041GA07 ,  2G041GA08 ,  2G041GA09 ,  2G041GA13 ,  2G041GA29 ,  2G041KA01 ,  5C038JJ05 ,  5C038JJ07
引用特許：
出願人引用 (4件)
  • 米国特許7078685
  • 米国特許5464985
  • 米国特許6504148
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審査官引用 (5件)
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