特許
J-GLOBAL ID:200903070513883696
ラッチのソフトエラー率の改善
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
古谷 聡
, 溝部 孝彦
, 西山 清春
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-300371
公開番号(公開出願番号):特開2006-129477
出願日: 2005年10月14日
公開日(公表日): 2006年05月18日
要約:
【課題】ラッチにおけるSERを低減する。【解決手段】好適一実施形態において、本発明は、ラッチにおけるソフトエラーイベントを低減するための回路と方法とを提供する。第1のインバータの入力は、第2のインバータの出力に接続される。第2のインバータの入力は、前記第1のインバータの出力に接続される。前記第1のインバータの入力が、ソフトエラーイベントによって障害を受ける時には、ある信号が、前記第1のインバータをトライステートにする。【選択図】図4
請求項(抜粋):
ソフトエラーを低減するためのトライステート可能なラッチであって、
a)入力と出力とを有する第1のインバータと、
b)入力と出力とを有する第2のインバータ
とを備え、
c)前記第1のインバータの前記入力は、前記第2のインバータの前記出力に接続され、
d)前記第2のインバータの前記入力は、前記第1のインバータの前記出力に接続され、
e)前記第2のインバータへの前記入力が、ソフトエラーイベントによって障害を受ける時には、前記第2のインバータは、ある信号によってトライステートにされることからなる、トライステート可能なラッチ。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (3件):
5J034AB06
, 5J034CB01
, 5J034DB08
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (9件)
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特開昭61-206998
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特開昭61-206998
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半導体メモリ回路およびラッチ回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-373947
出願人:三菱電機株式会社
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