特許
J-GLOBAL ID:200903070537055476
ネジの検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
豊栖 康弘
, 豊栖 康司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-027330
公開番号(公開出願番号):特開2005-221270
出願日: 2004年02月03日
公開日(公表日): 2005年08月18日
要約:
【課題】ネジを一定のピッチで正確に移送しながら、ネジの首部をも光のシルエットで撮像して正確に検査する。【解決手段】ネジの検査装置は、ネジ1の軸部1Bを案内してネジ頭1Aを上面に引っかけて移送するスリット3を所定の間隔で設けている回転リング2と、スリット3にネジ1を供給する供給機構4と、移送されるネジ1を検査する検査機構6とを備える。検査機構6は、光源7とカメラ8と演算検査器9とを備える。回転リング2のスリット3は、光源7の光を回転リング2の貫通孔10から外側に透過できるように貫通させている。光源7は回転リング2の貫通孔10に配設し、カメラ8は回転リング2の外側に配設している。検査装置は、光源7の光を、スリット3を透過させてカメラ8で受光し、カメラ8がネジ1をシルエットの映像として撮像して映像信号を出力し、カメラ8から出力される映像信号を演算検査器9で演算処理してネジ1を検査する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
全体の形状が内側に貫通孔(10)のあるリング状に形成されると共に、ネジ(1)の軸部(1B)を案内してネジ頭(1A)を上面に引っかけて移送するスリット(3)を所定の間隔で設けている回転リング(2)と、この回転リング(2)のスリット(3)にネジ(1)を供給する供給機構(4)と、回転リング(2)で移送されるネジ(1)を検査する検査機構(6)とを備えており、
検査機構(6)は、ネジ(1)に向かって光を照射する光源(7)と、光源(7)から照射された光を受光してネジ(1)の輪郭を示すシルエットの映像信号に変換するカメラ(8)と、このカメラ(8)から出力される映像信号を演算して、ネジ(1)を画像処理して検査する演算検査器(9)とを備えており、
回転リング(2)のスリット(3)は、光源(7)の光を貫通孔(10)から外側に透過できるように、内側の貫通孔(10)から外側に貫通しており、光源(7)は回転リング(2)の内側から外側に向かって光を照射するように回転リング(2)の貫通孔(10)に配設され、カメラ(8)はスリット(3)を透過する光を受光するように回転リング(2)の外側に配設され、
光源(7)の光がネジ(1)を保持するスリット(3)を透過してカメラ(8)で受光され、カメラ(8)がネジ(1)をシルエットの映像として撮像して映像信号を出力し、カメラ(8)から出力される映像信号を演算検査器(9)で演算処理してネジ(1)を検査するようにしてなるネジの検査装置。
IPC (3件):
G01B11/24
, B65G47/80
, G01N21/85
FI (4件):
G01B11/24 H
, B65G47/80 C
, G01N21/85 Z
, G01B11/24 K
Fターム (37件):
2F065AA52
, 2F065BB06
, 2F065BB15
, 2F065CC04
, 2F065DD06
, 2F065FF02
, 2F065FF04
, 2F065GG02
, 2F065GG03
, 2F065GG07
, 2F065GG18
, 2F065HH13
, 2F065HH15
, 2F065JJ03
, 2F065JJ09
, 2F065JJ26
, 2F065NN01
, 2F065PP11
, 2F065QQ25
, 2F065QQ31
, 2F065TT03
, 2F065UU04
, 2G051AA07
, 2G051AB02
, 2G051CA04
, 2G051CB02
, 2G051CC07
, 2G051CD07
, 2G051DA02
, 2G051DA06
, 2G051DA08
, 3F072AA21
, 3F072GA09
, 3F072GB10
, 3F072GE03
, 3F072KB03
, 3F072KB08
引用特許:
出願人引用 (2件)
審査官引用 (3件)
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頭部付き軸体の選別装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-038749
出願人:株式会社ユタカ
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ワーク検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-316531
出願人:株式会社ユタカ
-
特開昭63-186105
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