特許
J-GLOBAL ID：200903071080221568

膜厚測定方法及び装置

発明者：
畠中 宏明

畠中 宏明 について

, 
荒川 敬弘

荒川 敬弘 について


出願人/特許権者：
石川島播磨重工業株式会社

石川島播磨重工業株式会社 について


代理人 (1件)： 山田 恒光 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-239836
公開番号（公開出願番号）：特開2001-066130
出願日： 1999年08月26日
公開日（公表日）： 2001年03月16日
要約：
【要約】【課題】 皮膜の膜厚を容易に測定できるようにする。【解決手段】 送信用振動子4a及び受信用振動子4bを有する二振動子型超音波探触子4と、受信用振動子4bで受信した超音波Pの反射波Eを表示するオシロスコープ6と、オシロスコープ6により得た反射波の波形に対してウェブレット変換を順次行なう波形変換手段7と、波形変換手段7により得た変換後の波形に含まれている溶射皮膜2と母材1との界面相当部分を識別し且つ波形中の界面相当部分の位置に基づき溶射皮膜2の膜厚を算出し得る演算手段8とを備え、溶射皮膜2及び母材1の物性の影響を受けることなく、溶射皮膜2の膜厚を測定する。
請求項（抜粋）：
母材上に形成された皮膜の表面に、二振動子型超音波探触子の送信用振動子及び受信用振動子を当接させ、送信用振動子から皮膜及び母材へ超音波を伝播させ且つその反射波を受信用振動子で受信し、反射波の波形に対してウェーブレット変換を順次行ない、変換後の波形に含まれている皮膜と母材との界面相当部分を識別し、波形中の界面相当部分の位置に基づき皮膜の膜厚を算出することを特徴とする膜厚測定方法。
Fターム (8件)：
2F068AA28 ,  2F068BB14 ,  2F068FF04 ,  2F068FF12 ,  2F068FF14 ,  2F068FF16 ,  2F068KK13 ,  2F068LL03
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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引用文献：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

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