特許
J-GLOBAL ID:200903071212483109

部品位置決め方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 高矢 諭 ,  松山 圭佑 ,  牧野 剛博
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-174476
公開番号(公開出願番号):特開2008-004843
出願日: 2006年06月23日
公開日(公表日): 2008年01月10日
要約:
【課題】電極数が非常に多い上に、その配列がランダムな場合でも、位置決め精度を低下させることなく、電極パターンの照合処理を短時間で実行できるようにする。【解決手段】電子部品が備えている電極の配列を記述した電極座標系で、全電極について外接する第1矩形を設定し(S12)、設定された第1矩形について電極密度が最大のコーナを選択し(S13)、該コーナの頂点を起点として設定される同一面積の矩形の中で、電極密度が最小の第2矩形を決定し(S14)、該第2矩形に含まれる電極の配列を照合パターンに設定し(S15〜S17)、該照合パターンを保存し、該当する電子部品を撮像した画像座標系で、前記照合パターンに対応する電極パターンを抽出し、保存されている照合パターンを読出し、該電極パターンを照合して該電子部品を位置決めする。【選択図】図3
請求項(抜粋):
電子部品が備えている電極の配列を記述した電極座標系で、全電極を含むように外接する第1矩形を設定するステップと、 設定された第1矩形について電極密度が最大のコーナを選択するステップと、 選択されたコーナの頂点を起点として設定される同一面積の矩形の中で、電極密度が最小の第2矩形を決定するステップと、 決定された第2矩形に含まれる電極の配列を照合パターンに設定するステップと、 設定された照合パターンを保存するステップと、 該当する電子部品を撮像した画像座標系で、前記照合パターンに対応する電極パターンを抽出するステップと、 保存されている照合パターンを読出し、抽出された電極パターンを照合して該電子部品を位置決めするステップと、を含むことを特徴とする部品位置決め方法。
IPC (3件):
H05K 13/04 ,  H05K 13/08 ,  G01B 11/00
FI (3件):
H05K13/04 M ,  H05K13/08 Q ,  G01B11/00 H
Fターム (28件):
2F065AA03 ,  2F065AA07 ,  2F065AA17 ,  2F065AA20 ,  2F065AA51 ,  2F065BB02 ,  2F065CC25 ,  2F065FF04 ,  2F065FF41 ,  2F065GG17 ,  2F065HH12 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ36 ,  2F065QQ38 ,  2F065TT02 ,  5E313AA02 ,  5E313CC03 ,  5E313CC04 ,  5E313EE02 ,  5E313EE03 ,  5E313EE24 ,  5E313FF08 ,  5E313FF34
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (4件)
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