特許
J-GLOBAL ID:200903071212483109
部品位置決め方法及び装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
高矢 諭
, 松山 圭佑
, 牧野 剛博
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-174476
公開番号(公開出願番号):特開2008-004843
出願日: 2006年06月23日
公開日(公表日): 2008年01月10日
要約:
【課題】電極数が非常に多い上に、その配列がランダムな場合でも、位置決め精度を低下させることなく、電極パターンの照合処理を短時間で実行できるようにする。【解決手段】電子部品が備えている電極の配列を記述した電極座標系で、全電極について外接する第1矩形を設定し(S12)、設定された第1矩形について電極密度が最大のコーナを選択し(S13)、該コーナの頂点を起点として設定される同一面積の矩形の中で、電極密度が最小の第2矩形を決定し(S14)、該第2矩形に含まれる電極の配列を照合パターンに設定し(S15〜S17)、該照合パターンを保存し、該当する電子部品を撮像した画像座標系で、前記照合パターンに対応する電極パターンを抽出し、保存されている照合パターンを読出し、該電極パターンを照合して該電子部品を位置決めする。【選択図】図3
請求項(抜粋):
電子部品が備えている電極の配列を記述した電極座標系で、全電極を含むように外接する第1矩形を設定するステップと、
設定された第1矩形について電極密度が最大のコーナを選択するステップと、
選択されたコーナの頂点を起点として設定される同一面積の矩形の中で、電極密度が最小の第2矩形を決定するステップと、
決定された第2矩形に含まれる電極の配列を照合パターンに設定するステップと、
設定された照合パターンを保存するステップと、
該当する電子部品を撮像した画像座標系で、前記照合パターンに対応する電極パターンを抽出するステップと、
保存されている照合パターンを読出し、抽出された電極パターンを照合して該電子部品を位置決めするステップと、を含むことを特徴とする部品位置決め方法。
IPC (3件):
H05K 13/04
, H05K 13/08
, G01B 11/00
FI (3件):
H05K13/04 M
, H05K13/08 Q
, G01B11/00 H
Fターム (28件):
2F065AA03
, 2F065AA07
, 2F065AA17
, 2F065AA20
, 2F065AA51
, 2F065BB02
, 2F065CC25
, 2F065FF04
, 2F065FF41
, 2F065GG17
, 2F065HH12
, 2F065HH14
, 2F065JJ03
, 2F065JJ09
, 2F065QQ03
, 2F065QQ24
, 2F065QQ27
, 2F065QQ36
, 2F065QQ38
, 2F065TT02
, 5E313AA02
, 5E313CC03
, 5E313CC04
, 5E313EE02
, 5E313EE03
, 5E313EE24
, 5E313FF08
, 5E313FF34
引用特許: